X射线荧光光谱法测定低合金生铁中Si、Mn、P、S、Cr、Ni的应用

X射线荧光光谱法测定低合金生铁中的Si、Mn、P、S、Cr、Ni等元素的含量。通过对比分析,选择适合于低合金生铁的制样方式,建立对应的分析应用程序,达到分析测试目的。经实际生产验证:该分析方法具有分析速度快、精确度高的优点,满足了分析的需求。