光学薄膜的损耗测试与分析

随着激光基准系统和高精度激光测量系统的发展和应用,推动了超低损耗薄膜技术的发展,进一步控制损耗各分量的大小和分布,需要对光学薄膜总损耗进行测试分析。采用DIBS镀膜工艺在超光滑基底上镀制了高反膜和减反膜,给出了镀膜的工艺方法及工艺参数。通过分析时间衰减法测试总损耗的原理,分别采用时间衰减法和频率扫描法测试了光学薄膜的总损耗,在632.8nm波长点的测试结果为:高反膜层吸收为19.6×10-6,反射率达到99.99686%;减反膜层总损耗为78×10-6。最后对光学薄膜总损耗的构成和工艺改进进行了探讨。

激光陀螺膜片检测技术研究

综合叙述了当前激光陀螺膜片检测技术领域的研究进展情况。介绍了激光陀螺用超低损耗膜片检测技术的应用背景;在对激光陀螺三类误差因素进行分析的基础上,探讨了膜片的各项参数与激光陀螺性能间的相互关系,并据此确定了需要检测的膜片参数类型;从检测原理、检测仪器等方面入手,对这些参数的检测方法进行了研究与讨论,并对测量的精度进行了分析;对当前检测技术所达到的水平进行了评价与总结。

空间三轴激光陀螺现状与展望

空间三轴激光陀螺作为激光陀螺技术集成创新的典型代表,已充分展现出优越的综合性能。为全面了解和掌握空间三轴激光陀螺技术发展现状,本文梳理了空间三轴激光陀螺原理与组成、主要特点、关键技术和研究历程,分析了国外主要研究机构、典型产品型谱及应用现状,从中可见空间三轴激光陀螺在国外已经非常成熟和广泛应用。针对国内发展现状和存在的差距,提出了后续发展建议,为我国激光陀螺技术发展及产业化提供了参考。