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基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
1
作者
孔争辉
《中国集成电路》
2005年第8期81-83,共3页
通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。
关键词
USB
2.0接口
串行总线
测试
Advantest
T6500系列
下载PDF
职称材料
OPENSTAR—测试系统新概念
2
作者
孔争辉
《集成电路应用》
2005年第3期16-17,共2页
当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。
关键词
测试系统
OPENSTAR
IC业
Soc芯片测试平台
硬件环境
下载PDF
职称材料
题名
基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
1
作者
孔争辉
机构
爱德万测试上海分公司
出处
《中国集成电路》
2005年第8期81-83,共3页
文摘
通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。
关键词
USB
2.0接口
串行总线
测试
Advantest
T6500系列
分类号
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
OPENSTAR—测试系统新概念
2
作者
孔争辉
机构
爱德万测试(苏州)有限公司
出处
《集成电路应用》
2005年第3期16-17,共2页
文摘
当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。
关键词
测试系统
OPENSTAR
IC业
Soc芯片测试平台
硬件环境
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
孔争辉
《中国集成电路》
2005
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职称材料
2
OPENSTAR—测试系统新概念
孔争辉
《集成电路应用》
2005
0
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