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基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
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作者 孔争辉 《中国集成电路》 2005年第8期81-83,共3页
通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。
关键词 USB 2.0接口 串行总线 测试 Advantest T6500系列
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OPENSTAR—测试系统新概念
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作者 孔争辉 《集成电路应用》 2005年第3期16-17,共2页
当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。
关键词 测试系统 OPENSTAR IC业 Soc芯片测试平台 硬件环境
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