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基于FPGA定时刷新控制单元的应用技术研究 被引量:4
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作者 孙洁朋 陈波寅 +2 位作者 晏慧强 丛红艳 何小飞 《电子与封装》 2021年第1期61-66,共6页
SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,为解决FPGA在宇宙环境中单粒子翻转的问题,适应空间应用需求,给出了一种低成本抗辐照解决方案,对耐辐射FPGA器件进行抗单粒子翻转加固设计。该方案兼容多种型号FPGA芯片,从3片SPI FLASH中读取配置数... SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,为解决FPGA在宇宙环境中单粒子翻转的问题,适应空间应用需求,给出了一种低成本抗辐照解决方案,对耐辐射FPGA器件进行抗单粒子翻转加固设计。该方案兼容多种型号FPGA芯片,从3片SPI FLASH中读取配置数据,通过串行接口配置FPGA,并在配置完成后按照设定时间周期性刷新芯片,可以满足航天领域对抗辐照型FPGA的使用需求。 展开更多
关键词 单粒子翻转 加固设计 定时刷新 抗辐照型FPGA
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一种FPGA芯片中DSP模块的内建自测试方法 被引量:1
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作者 孙洁朋 魏建民 +1 位作者 闫华 丛红艳 《电子与封装》 2017年第10期9-12,共4页
提出了一种针对Xilinx Virtex-4/5系列FPGA芯片中嵌入式数字信号处理器(DSP)的内置自检测试(BIST)和故障诊断方法。该方法可以对DSP电路中乘法器和加法器进行有效的测试,缩短测试时间,减少工作量。同时通过更改DSP的配置信息来实现全芯... 提出了一种针对Xilinx Virtex-4/5系列FPGA芯片中嵌入式数字信号处理器(DSP)的内置自检测试(BIST)和故障诊断方法。该方法可以对DSP电路中乘法器和加法器进行有效的测试,缩短测试时间,减少工作量。同时通过更改DSP的配置信息来实现全芯片DSP的功能测试,提高了DSP模块的测试故障覆盖率。 展开更多
关键词 内置自检测 乘法器测试 加法器测试 DSP FPGA VIRTEX-4
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