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基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计
1
作者
魏江杰
张竣昊
孙碧垚
《集成电路应用》
2023年第7期28-30,共3页
阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计,可以根据集成电路的实际需求,满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求,可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段,降低了测试成本,系统有比较好的复用性。
关键词
集成电路测试
ZYNQ
扫描链
复用性
下载PDF
职称材料
题名
基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计
1
作者
魏江杰
张竣昊
孙碧垚
机构
中电科申泰信息科技有限公司
出处
《集成电路应用》
2023年第7期28-30,共3页
文摘
阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计,可以根据集成电路的实际需求,满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求,可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段,降低了测试成本,系统有比较好的复用性。
关键词
集成电路测试
ZYNQ
扫描链
复用性
Keywords
integrated circuit testing
ZYNQ
scan chain
reusability
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计
魏江杰
张竣昊
孙碧垚
《集成电路应用》
2023
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