平移群对称性对声子带隙的调节作用

元胞的平面波展开法,计算了由水正四棱柱体按正方格子排列于水银基体中所组成的声子晶体的带结构。通过只旋转对角的方柱体来改变声子晶体的平移群对称性,结果发现,具有很好的调节声学带隙的作用。本文工作表明,声子晶体的平移群对称性对于其带隙的形成具有重要影响,同时,超元胞方法也是研究声子晶体平移群对称性影响声子带隙形成的一种有效方法。

一种基于二次模板匹配的晶圆对准方法

介绍了在二极管探针台测试晶圆过程中一种晶圆自动对准方法。在承片台上放置晶圆后,首先利用一次模板匹配实现对晶圆偏转角度的调整;然后,晶圆上的特征点移至CCD视场范围内,对初始特征点进行二次模板匹配,再将晶圆上的测试起点移至测试探针下方完成对准工作。

12吋芯片分拣机龙门架的性能分析及结构优化

以12吋芯片分拣机主梁龙门架作为研究对象,建立龙门架的三维模型,利用HyperMesh软件对模型进行处理,模拟受力过程,获得工况下的龙门架应力和位移云图,以此作为龙门架结构优化的判定标准;然后,通过计算分析拓扑优化方案,得到工况载荷下材料的最佳分布;同时,为获得合理的尺寸值,对龙门进行尺寸优化,最终得到借鉴拓扑结果、依据尺寸优化数值的新式龙门架;最后,通过对比优化前后龙门架的性能,发现龙门架的静动态性能维持不变的前提下,整体结构减重明显,也进一步说明,通过此方法进行优化设计获得了较为理想的龙门结构,也为进一步优化龙门提供了设计依据。

半导体裸芯粒分选机的开发应用

裸芯粒分选机属于光机电一体化领域的高性能、智能化的检测分选设备,是面向二极管领域的专用分选检测设备。伴随着二极管市场的激烈竞争,二极管封装厂家对裸芯粒的质量要求也在不断的提升,裸芯粒的测试与分选变得尤为重要。裸芯粒分选机不仅适用于GPP整流桥裸芯粒分选测试领域,还正式进入GPPTVS裸芯粒分选测试领域。

高精密芯片测试探针台打点器的设计与研究

探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,其中打点器是探针台的主要配件,负责对分选芯粒进行打点标记。文中介绍了打点器的种类和打点方式,并且结合客户在使用过程的反馈意见,总结了打点器存在的一些问题,设计研究了一种新的打点器结构,并且对设计后的结构进行了实际测试,打点效果得到了明显改善。

一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现

探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法。文中研究并且实现了一种测试六边形芯粒的新方法,新型测试方法已经交付客户现场测试使用,测试结果得到了客户认可,解决了客户的测试难题。

基于Workbench的芯片分选机部件的设计分析

根据单层陶瓷电容芯片在分选机实际测试过程中反馈的数据,基于仿真软件Workbench对芯片测试过程进行了应力分析,辅助设计了分选机的测试部件。