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题名晶圆级封装翘曲研究及仿真自动化
被引量:1
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作者
白红圆
张振越
季钰麟
王波
王剑峰
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机构
无锡中微高科电子有限公司
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出处
《中国集成电路》
2023年第8期70-75,89,共7页
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基金
国家科技部重点研发计划(2020YFB1807303)。
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文摘
晶圆的翘曲一直是晶圆级封装工艺面临的重要挑战。本文针对晶圆的非线性翘曲现象,分别对多种有限元仿真方法进行比较,并提出了一种基于非对称网格的非线性仿真方法;结果表明,采用非对称网格的方法能够得到与测试结果一致的拱型翘曲,同时仿真与实测误差为2.22%,低于其他仿真方法。利用该方法深入研究了晶圆降温过程翘曲变形的过程,并对模型中EMC厚度进行了参数化分析,揭示了晶圆翘曲随EMC厚度变化的影响趋势。最后本文对美国ANSYS公司的有限元分析软件(ANSYS)进行二次开发,使得软件能够自动、快速、准确地获得晶圆的翘曲结果。
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关键词
晶圆级封装
翘曲
板壳理论
二次开发
非线性
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Keywords
wafer-level packaging
warpage
theory of paltes and shells
secondary development
nonlinear
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
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