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题名LED常见失效模式与失效机理
被引量:3
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作者
安国雨
席善斌
刘东月
彭浩
黄杰
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机构
中国电子科技集团公司第十三研究所
国家半导体器件质量监督检验中心
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出处
《环境技术》
2018年第1期38-44,共7页
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文摘
发光二极管(Light Emitting Diodes,LEDs)由于具有长寿命、高能量转换效率、环境友好的特点而成为当今最受欢迎的照明解决方案之一,广泛应于显示屏、通讯、医疗器件以及普通照明产业。LED结构类似于半导体器件,但是由于其在性能、材料以及界面间的差异,又使得其具有特殊的失效模式和失效机理。本文针对LED常见失效机理和机理进行了讨论和分析,对应用可靠性给出了相关建议。
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关键词
发光二极管
失效模式
失效机理
可靠性
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Keywords
light emitting diodes (LEDs)
failure mode
failure mechanism
reliability
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名太赫兹技术应用与发展研究
被引量:13
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作者
安国雨
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机构
中国电子科技集团公司第十三研究所
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出处
《环境技术》
2018年第2期25-28,共4页
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文摘
太赫兹技术被誉为"改变未来世界的技术"之一,并成为世界先进国家民用和军事领域的研究热点,近几年进展迅速。本文论述了太赫兹技术在雷达、探测、通信等领域的应用特点和优势,并概括总结了太赫兹技术近两年的最新发展动态。
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关键词
太赫兹雷达
太赫兹探测
太赫兹通信
太赫兹器件
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Keywords
terahertz radar
terahertz detection
terahertz communication
terahertz device
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分类号
TN92
[电子电信—通信与信息系统]
TN95
[电子电信—信号与信息处理]
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题名LED组件寿命评估方法的研究
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作者
安国雨
赵敏
张万生
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机构
中国电子科技集团公司第十三研究所
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出处
《无线电工程》
2011年第12期56-58,共3页
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文摘
由于LED技术的飞速发展,其应用产品不断扩大到人们生活的各个方面,因此LED产品的可靠性问题也日益受到人们的关注。在可靠性工程常用的寿命分布中,指数分布是应用广泛的一种分布,进入偶然失效期以后都可以认为产品失效分布是指数分布。LED产品的寿命试验有定时截尾和定数截尾2种方式,由于定数结尾需要较长的试验时间,因此采用定时截尾的试验方法来获取试验数据。给出了LED组件的寿命评估方法,该方法对LED模块和应用产品同样适用。
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关键词
LED组件
平均寿命
测试
指数分布
定时截尾试验
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Keywords
LED discreteness
average life time
test
exponential distribution
fixed time test
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分类号
TN364.2
[电子电信—物理电子学]
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