基于离线检测的SVM+NIDS模式研究

文章针对现有IDS存在的高误报率、漏报率等问题,以及传统人工智能解决方案中存在的不足,提出了将SVM算法嵌入到IDS中的方法,并在此基础上,应用MIT离线测试集对模型进行了验证。实验结果表明,将SVM算法与IDS相结合的方法是可行的。