-
题名基于老化特征化提取进行时序分析的解决方案
- 1
-
-
作者
陈寒
宋存彪
吴韦忠
-
机构
中兴微电子技术有限公司
-
出处
《电子技术应用》
2022年第8期51-54,59,共5页
-
文摘
基于Cadence的Liberate+Tempus解决方案,采用一种先进的标准单元老化特征化的方法,同时考虑了偏置温度不稳定性(Bias Temperatrure Instability,BTI)和热载流子注入(Hot Carrier Injection,HCI)老化效应,得到标准单元老化时序库,用于Tempus进行考虑老化的静态时序分析(Aging-aware Static Timing Analysis,Aging-aware STA)。产生一套先进的标准单元老化时序库,能够针对不同标准单元不同传输路径,表征一定范围的老化应力条件的时序特征,改善了传统添加全局时序减免值导致电路PPA(Performance/Power/Area)难以收敛的问题,同时只需要调用一套标准单元库也使STA更加简洁易操作。
-
关键词
老化标准单元库
Cadence
Liberate
Aging
Aware
STA
Tempus
-
Keywords
aging library
Cadence Liberate
aging aware STA
Tempus
-
分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-