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半导体器件工艺中热电偶可靠性测温
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作者 周应华 宋才猷 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1989年第3期94-97,共4页
本文介绍了半导体器件工艺中利用热电偶测温的原理、性能以及如何对热电偶误差进行修正补偿。
关键词 半导体 工艺 热电偶 温度 测量
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