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获得精细通孔图形的光刻技术改进(英文)
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作者 宋泳锡 劉聖烈 +3 位作者 柳在一 張炳鉉 李禹奉 李貞烈 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期447-450,共4页
为了获得更高性能的TFT—LCD面板,在光刻时保证精细的图形成像十分重要,其中,如何制作出尺寸更小的通孔图形是主要的问题之一。本文提供的研究中,我们只简单地改变了一下烘烤工艺,而不需要改变Eop和显影时间,就可以将通孔图形的... 为了获得更高性能的TFT—LCD面板,在光刻时保证精细的图形成像十分重要,其中,如何制作出尺寸更小的通孔图形是主要的问题之一。本文提供的研究中,我们只简单地改变了一下烘烤工艺,而不需要改变Eop和显影时间,就可以将通孔图形的尺寸减小20%~25oA。在后续的刻蚀工艺中,通孔的尺寸能显著减小。 展开更多
关键词 TFT—LCD 光刻 通孔图形 尺寸
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