环境气氛对继电器触点性能影响的研究进展

本文重点梳理和综述了O_2、N_2、SF_6、He、Ar等气氛对触点燃弧时间、接触电阻、侵蚀量、分断能力、电寿命、电弧电压影响的试验研究进展,并对未来的工作进行了展望。

触头电侵蚀性能影响因素概述

介绍了Ag Ni、Ag C、Ag W、Ag Sn O_2、Ag Zn O等银基触头材料的电侵蚀性能,包括同种电流、电压条件下不同材料的侵蚀量大小顺序,侵蚀量与电流电压、开距、频率、添加剂之间的关系等。已有试验表明,银金属合金在小电流低电压下的侵蚀量一般为Ag C>Ag Ni>Ag W;银金属氧化物的侵蚀量大小顺序一般为Ag Cu O>Ag Cd O>Ag Zn O>Ag Sn O_2>Ag Yb_2O_3。

蒙特卡洛法计算750kV输电线路绕击跳闸率的研究

针对规程法计算输电线路绕击跳闸率误差较大的问题,采用了蒙特卡罗法计算绕击跳闸率,对雷电流幅值、先导对地面和导线的击距、地面倾角、绝缘子串50%放电电压等参数进行了分析,基于电气几何模型(Electric-Geometry Model,EGM),选用实际运行的兰州东-平凉-乾县750kV超高压输电线路计算绕击跳闸率,并分析了导线高度对绕击跳闸率的影响。结果表明:蒙特卡罗法计算的绕击跳闸率可信度较高,并且导线高度对绕击跳闸率影响较大。

电触头闭合过程中熔焊现象研究

触头熔焊既可以发生在接通过程,亦可以发生在分断过程。采用触头模拟装置进行触头的电寿命试验,阐明接通过程中的熔焊现象是发生在触头弹跳分离瞬间,还是闭合瞬间,以及闭合弹跳次数及时间对熔焊发生概率的影响。经分析,得出熔焊发生具有随机性。

不同分断力下触头动熔焊研究

触头的熔焊既能发生在闭合过程,也能发生在分离过程,为了解分断力大小对触头分离熔焊发生概率的影响规律,利用触头模拟装置开展了不同分断力下的触头熔焊试验。结果表明,分断力的增加没有造成分离熔焊概率的单调下降;但分断力的增加会使得触头发生第一次熔焊时的操作次数单调增加。

电力系统混沌振荡的滑模变结构控制

为了消除电力系统的混沌现象,克服其对大面积电网的不利影响,对电力系统的四维非线性模型进行了复杂动力学特征分析,包括相轨迹图、分岔图、庞加莱映射图,这些特征加深了对其混沌振荡的认识.为了保证系统控制的鲁棒性,设计了滑模变结构控制器,并用Lyapunov稳定理论证明了系统的稳定性,将混沌振荡系统控制到稳定的系统.用Matlab模拟验证其有效性,结果证明该方法能够有效抑制电力系统的混沌现象.

非对称配对触头材料的电性能试验研究

为进一步了解不同材料配对时触头电性能的优劣,本文开展了AgNi、AgCdO、AgSnO_2及其不同配对的抗熔焊能力、侵蚀量、燃弧时间等试验,利用SEM分析了材料表面成分变化规律。研究表明非对称配对触头在抗熔焊、抗侵蚀、燃弧时间等方面呈现"优化效应"、"劣化效应"、"中间效应"等多种模式。