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同步时序电路故障可测性研究
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作者 王仲 官云战 《贵州工业大学学报(自然科学版)》 CAS 2002年第4期12-15,共4页
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法 ,运用该算法无须搜索便可识别出时序电路中相当一部分不可测故障。
关键词 同步时序电路 可控性 不可测故障 故障识别 测试系统
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