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40 Gbit/s PIN/TIA组件光纤耦合分析与实验研究
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作者 宿志成 刘兴瑶 +1 位作者 张学军 丁国庆 《光通信研究》 北大核心 2006年第3期51-53,共3页
文章对40 Gb it/s PIN/TIA组件的光纤耦合进行了理论分析,并进行了一些实验研究。通过使用紫外胶和精细固化方法,进行了光纤耦合固定,使得40 Gb it/s PIN/TIA组件灵敏度达到国内领先水平。经测试,40 Gb it/s PIN光纤精细对准后的响应度... 文章对40 Gb it/s PIN/TIA组件的光纤耦合进行了理论分析,并进行了一些实验研究。通过使用紫外胶和精细固化方法,进行了光纤耦合固定,使得40 Gb it/s PIN/TIA组件灵敏度达到国内领先水平。经测试,40 Gb it/s PIN光纤精细对准后的响应度可达0.65 A/W,耦合固定后的光响应度超过0.46 A/W。 展开更多
关键词 光耦合 高斯光束 锥形光纤 楔形光纤 光响应度 紫外胶
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