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基于卷积分析稀疏表示和相位一致性的低照度图像增强 被引量:8
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作者 周浦城 张杰 +1 位作者 薛模根 尹璋堃 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第1期180-188,共9页
针对低照度图像存在的对比度低、视觉效果差等问题,提出一种基于卷积分析稀疏表示和相位一致性的低照度图像增强方法.该方法基于Retinex模型,在估计照度图像时采用卷积分析稀疏表示进行约束,所用滤波器一部分人工设定,一部分由样本训练... 针对低照度图像存在的对比度低、视觉效果差等问题,提出一种基于卷积分析稀疏表示和相位一致性的低照度图像增强方法.该方法基于Retinex模型,在估计照度图像时采用卷积分析稀疏表示进行约束,所用滤波器一部分人工设定,一部分由样本训练自动获得;在计算反射图像时利用单演相位一致性特征,施加相位一致性残余最小约束来恢复细节;通过联合约束并进行优化,得到的反射图像即为最终的增强结果.对大量低照度图像进行实验,并与当前先进方法相比,结果表明,本文方法不仅提高了图像的亮度与对比度,增强了细节,而且在多个客观评价指标上都优于其他方法. 展开更多
关键词 低照度图像 Retinex模型 卷积分析稀疏表示 相位一致性
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典型伪装材料高光谱偏振特性实验检测与分析 被引量:3
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作者 贾镕 王峰 +1 位作者 尹璋堃 刘晓 《红外技术》 CSCD 北大核心 2020年第12期1170-1178,共9页
针对传统检测方法无法在复杂背景下同时获取伪装材料偏振信息与光谱信息的局限性,本文利用高光谱偏振成像技术对典型伪装材料检测并分析其高光谱偏振特性。使用一套分孔径同时式高光谱偏振成像系统,对伪装涂层和伪装网等典型伪装材料进... 针对传统检测方法无法在复杂背景下同时获取伪装材料偏振信息与光谱信息的局限性,本文利用高光谱偏振成像技术对典型伪装材料检测并分析其高光谱偏振特性。使用一套分孔径同时式高光谱偏振成像系统,对伪装涂层和伪装网等典型伪装材料进行高光谱偏振检测并解析出伪装材料的9个偏振参量,获得了伪装材料与背景的相对反射率随光谱改变的变化规律。结果表明,利用伪装材料与背景的偏振特性差异,选择合适偏振参量可以增加目标的纹理细节特征并提高其对比度;分析其光谱偏振特性,选择760 nm检测波段有利于快速准确地检测伪装材料。 展开更多
关键词 伪装材料 高光谱偏振 偏振参量 相对反射率
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