基于二次测量的曲面反求自适应采样方法研究

针对叶片CAD模型未知的情况,提出一种基于二次测量的曲面反求变弧长自适应采样方法。通过三坐标测量机测量反映叶片曲面形状的关键几何要素,重构曲面初始模型;基于初始模型获得的叶片曲率信息,确定采样方向和进给方向;基于变弧长自适应采样方法,使用三坐标测量机对叶片采样;基于获得的采样点坐标信息,反求出CAD模型。通过模拟仿真试验,在采样点数目能够准确反映曲面曲率的情况下,相对于采用等弧长、等弦弧比、等弦弧差自适应采样方法,采用变弧长自适应采样方法的曲面拟合精度明显提高。