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通信类SoC测试方案——One-Chip
1
作者
徐勇
魏炜
+3 位作者
川端
雅之
小圆祐一
浅见幸司
《集成电路应用》
2003年第3期36-38,共3页
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新...
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术。另外,这里也列举了关于利用这些技术进行测试的例子。
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关键词
无线通信芯片
SOC测试系统
任意波形发生器
波形数字转换器
测试方法
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职称材料
题名
通信类SoC测试方案——One-Chip
1
作者
徐勇
魏炜
川端
雅之
小圆祐一
浅见幸司
出处
《集成电路应用》
2003年第3期36-38,共3页
文摘
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术。另外,这里也列举了关于利用这些技术进行测试的例子。
关键词
无线通信芯片
SOC测试系统
任意波形发生器
波形数字转换器
测试方法
分类号
TN92 [电子电信—通信与信息系统]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
通信类SoC测试方案——One-Chip
徐勇
魏炜
川端
雅之
小圆祐一
浅见幸司
《集成电路应用》
2003
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