期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
通信类SoC测试方案——One-Chip
1
作者 徐勇 魏炜 +3 位作者 川端 雅之 小圆祐一 浅见幸司 《集成电路应用》 2003年第3期36-38,共3页
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新... 本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术。另外,这里也列举了关于利用这些技术进行测试的例子。 展开更多
关键词 无线通信芯片 SOC测试系统 任意波形发生器 波形数字转换器 测试方法
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部