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硫掺杂对ZnO热电性能的影响
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作者 左连勇 沈鸿烈 朱云广 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期11-14,共4页
采用固相反应法制备了ZnO1-xSx块体材料(0≤x≤0.05);通过对样品X射线衍射谱(XRD)、电导率和Seebeck系数的测量,研究了S掺杂对ZnO晶体结构及热电性能的影响。结果表明:所有试样均为六方纤锌矿结构。在573 K时,ZnO1-xSx(0<x≤0.05)材... 采用固相反应法制备了ZnO1-xSx块体材料(0≤x≤0.05);通过对样品X射线衍射谱(XRD)、电导率和Seebeck系数的测量,研究了S掺杂对ZnO晶体结构及热电性能的影响。结果表明:所有试样均为六方纤锌矿结构。在573 K时,ZnO1-xSx(0<x≤0.05)材料的电导率(1 723 S.m–1)比ZnO材料的电导率(3.02 S.m–1)大得多,同时二者的Seebeck系数相差较小。在1 073 K下,试样ZnO0.97S0.03具有最高的功率因子2.5×10–4 Wm–1K–2,是同温度下未掺杂ZnO功率因子的10倍。 展开更多
关键词 热电材料 ZNO 等电子掺杂 功率因子
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Ni掺杂CoSb_3化合物的热电性能及机理研究
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作者 朱云广 沈鸿烈 +1 位作者 左连勇 鲁林峰 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2010年第11期38-42,共5页
采用机械合金化结合冷等静压的方法制备了CoSb3和Co3.5Ni0.5Sb12化合物,并测量了其热电性能。利用基于密度泛函理论赝势平面波的方法对Ni掺杂前后的CoSb3的能带结构和态密度进行了计算,实验和理论计算结果表明:CoSb3的费密面位于导带和... 采用机械合金化结合冷等静压的方法制备了CoSb3和Co3.5Ni0.5Sb12化合物,并测量了其热电性能。利用基于密度泛函理论赝势平面波的方法对Ni掺杂前后的CoSb3的能带结构和态密度进行了计算,实验和理论计算结果表明:CoSb3的费密面位于导带和价带之间,其电阻率随温度的升高而降低,为非简并半导体;Co3.5Ni0.5Sb12的费密面进入导带,其电阻率随温度的升高而增大,为n型简并半导体;本实验条件下,Co3.5Ni0.5Sb12化合物的功率因子在550 K时出现最大值2 292.92μW/(m.K2),是未掺杂CoSb3化合物最大值的12倍。 展开更多
关键词 Co3.5Ni0.5Sb12 热电性能 能带结构 态密度
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