变化的理论α影响系数在校正Cr-Fe-Ni不锈钢基体效应中的应用

通过SpectraPlusX射线荧光光谱分析软件计算了 7个不锈钢标准样品中的其它元素对Cr的理论α影响系数 ,发现对Cr有二次激发的增强元素的理论α影响系数随着元素含量的变化变动较大。采用随元素含量的变化而变化的理论α影响系数校正不锈钢中的基体效应 ,较好地校正了其他元素对Cr的增强效应 ,并使不锈钢和低合金钢中的Cr含量 (0 3%～ 2 0 8% )可以通过一条校准曲线进行测量。变化的理论α影响系数可以校正含量变化较大的元素的基体效应 ,可以适当延伸校准曲线的含量分析范围。采用X射线荧光光谱法测定不锈钢中的Al,Si,P ,S ,Ti,Cr,Mn ,Co,Ni,Cu ,As ,Mo ,Sn ,W ,Pb等 15个元素的含量 ,用变化的理论α影响系数校正基体效应 ,测量结果与湿法化学分析结果相符。

金相组织变化对X射线荧光光谱法测定黄铜中铜铅铁的影响及校正

研究了金相组织变化对X射线荧光光谱法测定黄铜中Cu、Pb、Fe的影响。Pb相和Fe相的出现使得Cu的测定结果偏高 ,Pb和Fe的校准曲线不成一条直线。金相组织的变化导致试样测量表面的元素分布不均匀 ,从而影响了元素间吸收和增强效应的实际效果 ,理论α影响系数不再适合校正基体效应。提出了 4种数学方法来校正金相组织变化的影响 :(1)理论α影响系数和经验影响系数相结合的方法 ;(2 )根据析出相的比例校正校准曲线的斜率 ;(3)引入二次项校正 ;(4)根据Pb相的析出情况 ,以Pb含量 0 .6 %为分隔点 ,对校准曲线分段。

熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素

采用熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba14个成分的含量,所得结果与化学分析结果相符,各组分测定33次的仪器RSD为0.10%～4.67%。在试验过程中,对功率为1kW和4kW的两种波长色散型X射线荧光光谱仪的灵敏度和检出限进行了比较,并对仪器的精密度和长期稳定性进行了考察。

X射线荧光光谱法测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷和砷。考察了试样表面质量对测量结果的影响,并对黄铜中元素间的吸收增强效应进行了研究。实验发现,吸收效应对黄铜的分析结果有较大影响,需用理论α影响系数进行基体效应校正。采用本法分析了多种黄铜标准样品(普通黄铜、加砷黄铜和特殊黄铜),结果显示,普通黄铜和加砷黄铜的分析结果与标称值相符。文中还给出了方法的实验室内和实验室间的精密度试验结果。

X射线荧光光谱无标样分析软件在金属材料分析中的应用

简要介绍X射线荧光光谱无标样分析技术及最新的无标样分析软件 ,并应用该软件对黄铜、不锈钢和铝合金等金属材料进行了分析。

X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量

本文采用Ｌｉ２Ｂ４Ｏ７∶ＬｉＢＯ２＝ １２∶２２ 作熔剂制备氟石熔融片，用波长色散Ｘ 射线荧光光谱仪测定氟石中的ＣａＦ２、ＳｉＯ２、Ｆｅ２Ｏ３、ＳＯ３、Ｐ２Ｏ５。本法测量准确度、精密度较好，所得结果与湿法化学分析结果一致。

普通X射线荧光光谱仪分析铜精矿样品在储存过程中化学态的变化

采用普通X射线荧光光谱仪观察了经不同方式保存的铜精矿样品的SKα谱、SKβ伴线谱的谱峰位置和谱线形状,以及(SKαSKβ) ,(CuLαCuKα)和(FeLαFeKα)的谱线强度比率,根据这些谱线及谱线强度比率存在的一些变化来推断,铜精矿中的硫、铜、铁的化学态在储存过程中发生了变化。研究表明,主要矿相为黄铜矿(含有少量黄铁矿)的铜精矿样品储存2年后,发生了较明显的氧化,有部分S2 - ,Cu+ 和黄铁矿中的Fe2 + 被氧化为高价态,硫原子与氧原子相结合。样品的保存方式对样品的氧化程度有很大影响。

X射线荧光光谱测定灯用煤油中的微量硫

本法利用波长色散X射线荧光光谱仪测定灯用煤油中的硫 ,测量精密度较好 ,加标回收率为 90 .4 %～ 10 8.9% ,检测限 (LLD)为 0 .6× 10 - 6 (ws)。

X射线荧光光谱法测定水样中的痕量元素

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定了水样中痕量的A1、Cr、Ni、Zn、Sr、Ba、Tl、Pb。本法的测量结果与ICP和AAS的结果相近 ,对 5 7μg/gSr测量 5次的RSD为 1 2 % ,Sr的检出限(LLD)达到 0 1 μg/g。

顺序式X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法

介绍顺序式 X射线荧光光谱仪 5种常见故障的诊断及处理方法。故障部位包括 X射线装置、样品室和光谱室的真空、探测器、晶体和测角仪。

波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍

介绍澳大利亚国家标准和中国国家计量检定规程中关于波长色散型 X射线荧光光谱仪的性能测试方法 ,并对 SRS34 0 0型 X射线荧光光谱仪进行了性能测试和计量检定。

铜精矿样品的氧化条件及其机理探讨

考察了不同贮存和制备条件对铜精矿样品铜含量的影响,得出在包装密封不良时铜含量因氧化而产生的变化结果及其趋势;根据X射线衍射所作的矿相分析结果,利用X射线荧光光谱仪观察样品中铜、铁、硫化学态的变化,探讨了铜精矿氧化反应的机理。样品变质主要是低价硫、铜、铁离子与空气中的水和氧发生氧化反应所致,酸度增高会促使氧化反应加速进行。

微波消解ICP-AES法测定铝合金中高含量硅

详细考察了高硅铝合金的微波消解和ICP AES测定条件 ,经对数个实际样品的检测 ,方法的分析指标和测试精密度满意。

高温燃烧红外吸收法快速测定铜精矿中的硫

研究采用高温燃烧红外吸收法测定钢精矿中高硫的方法。与经典的硫酸钡重量法及高温燃烧中和法相比,新方法 具有快速、准确、简便等优点。可测定铜精矿中10％～35％的高硫,相对标准偏差(RSD,n=8)小于1.0％。

含硅铜矿物中铅量测定的溶样方法改进

介绍测定含硅铜矿物中铅的溶样方法的改进及其效果。通过加氢氟酸而得出的改进溶样法 ,用于检测铅量 0 0 3 %～ 4 0 %的含硅铜精矿、冰铜及铜矿石。方法适用于不同硅含量的各类铜矿物 ,快速简便 ,准确度和精密度符合要求 ,相对标准偏差为 1 2 %～ 5 3 %。

浙江省商品萤石杂质成份调查及相关因素探讨

通过对浙江省主要萤石矿商品萤石杂质成份含量的调查 ,比较全面地反映了浙江省商品萤石的总体质量面貌 ;并结合萤石矿成因 ,深入。

进口铁矿中锰含量检测方法的改进

采用增入加样法制备高锰铁矿系列标样 ,并用X -荧光光谱补偿法测定进口高锰铁矿中锰含量 ,从而使铁矿石 -X荧光光谱法

萤石矿中二氧化硅含量回归方程的研究

通过对热液型萤石矿主要化学成分CaF2、SiO2及CaCO3的相关性分析,推导出估算萤石矿中SiO2量的回归方程。检验表明本方法计算结果与实测结果无显著性差异。方法简便、快速、可靠。

能量色散X荧光光谱法测定红土镍矿中镍等化学成分

基于能量色散X荧光(EDXRF)分析技术,建立了测定红土镍矿中铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅含量的新方法。以锥形铝杯为试料支撑,为X荧光分析提供了适当的压片试样。收集了不同成分的红土镍矿样品,通过化学法和仪器法分析定值,作为标准物使用。用不同数学模型对元素间的相互干扰及吸收增强效应进行校正建立校准曲线。研究表明,采用锥形铝杯-粉末压片法制备红土镍矿分析试样,用EDXRF光谱仪进行测定,铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅的检出限分别为0.0140%、0.0008%、0.0040%、0.0010%、0.0004%、0.0002%和0.0060%,相对标准偏差(RSD)分别为0.56%、0.90%、0.21%、2.70%、1.41%、0.98%和1.65%,方法具有良好的准确度和精密度。

应用理论α系数校正X射线荧光光谱法分析锰矿时的基体效应

在锰矿的X-射线荧光光谱分析中应用理论α系数法对其基体效应作了校正,从而使锰矿中主要及次要组分(包括Mn、Fe、MgO、Al_2O_3、SiO_2、P、S、K_2O、CaO、TiO_2、NiO、Cu、Zn及BaO等14项)的测定结果与所分析的标准物质的证书值相符。锰矿样品用四硼酸锂熔融,所得熔片用于X-射线荧光光谱分析。此外还发现,由直接灼烧锰矿试样所测得的灼烧损失值与由锰矿与四硼酸锂一起灼烧所测得的值不同且常小于后者。基于这一事实,提出了由灼烧锰矿与四硼酸锂混合物的条件下测定灼烧损失的方法,测得制备锰标准曲线的标准偏差为0.08%;测定一种矿样中锰量时其结果的相对标准偏差(n=11)为0.19%。