浅谈结晶器液面波动异常情况

以迁钢4号铸机结晶器液面波动异常使铸坯质量降级为探讨对象,对结晶器液面波动异常出现的问题进行了初步分析.结晶器液面波动异常不仅关系到保护渣的熔化行为,还会对钢水内夹杂物的分布产生影响,最终导致铸坯质量降级.如结晶器液面波动过大,则致使铸坯严重降级,而且很容易产生卷渣造成漏钢危险;如液面波动过于平静,液面发死则不利于结晶器内保护渣化渣,致使液渣少、液渣不易流入缝隙中,导致铸坯发生粘结等危险.

弯曲不敏感光纤1310nm处模场直径测试方法研究

G.657.A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤,和传统的G.657.A1弯曲改善型单模光纤相比,它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-T G.657.A2标准,同时完全符合ITU-T G.652.D标准,与已经广泛铺设的G.652标准单模光纤能无缝兼容,目前在国内FTTH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G.657.A2光纤1310nm处模场直径时,特别是测宏弯性能优异的G.657.A2光纤时,如果仍然采用针对传统标准G 652光纤测试条件:即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模的滤模器,并不总能有效滤除高阶模,当高阶模未完全滤除时,会出现测试光纤的模场直径比其真实的模场直径偏小的现象。本文通过试验的方法研究分析了高阶模对模场直径的影响和可能的消除办法,多个试验结果表明:图1b和图1c所示两种测试方法完全能够满足国家标准、国际标准的测试要求,且两种方法测试模场直径的均值无显著差异(p<0.05)。由于G.657.A2光纤标准要求λ_(cc)≤1260nm,可以保证22m光纤或光缆试样的"对应截止波长"≤1260nm,故用图1c条件可测得正确的1310nm处MFD值。

浅析结晶器振动对连铸坯表面质量的影响

浅析了结晶器振动所产生的铸坯表面振痕及横裂是影响铸坯表面质量的一个重要因素.结晶器振动有利于连铸坯的脱模,但振动也使铸坯表面产生振痕.通过对铸坯振痕金相组织的分析发现,在振痕谷部其夹渣、成分偏析较为严重,这些偏析是连铸坯表面产生横向裂纹的根源,而且振痕越深上述表现就越严重.因此,必须对振痕的形成过程有所了解,以便通过对结晶器操作优化减轻振痕,提高铸坯的表面质量.

路桥施工技术及质量要求控制措施分析

经济飞速发展使得我国对路桥工程需求日益加剧,加强对路桥施工技术和质量的控制具有重要意义,但是目前路桥施工现状并不十分乐观,技术和质量控制仍存在较多问题。文章将针对路桥施工技术和质量要求进行分析,并提出相应的措施,可为路桥工程施工提供参考依据。

弯曲损耗不敏感单模光纤谱衰减性能测试分析

本文通过研究分析大量的实验测试数据,探讨了光纤中高阶模对于弯曲不敏感单模光纤谱衰减测试准确性的影响,并提出了相应的解决方案。