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G.657光纤熔接和熔接损耗测试 被引量：1
1
作者 张立岩 胡勇 +1 位作者 严长峰 庹琦翔 《电信工程技术与标准化》 2014年第11期34-36,共3页
在G.657.A2光纤推广和使用过程中,熔接和熔接损耗的测试出现了比较突出的问题或认识误区,本文分别针对"黑线"和"晕环"现象、熔接参数调整、OTDR测试熔接损耗"大正大负"等方面的问题进行了解释和汇总。
关键词 G.657.A2 熔接 黑线 晕环 OTDR
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