基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化

利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。

晚期直肠癌的外科治疗（附32例临床诊治分析）

目的 探讨术前介入化疗对晚期直肠癌患者治疗的疗效.方法 对笔者所在医院收治的32例晚期直肠癌患者进行回顾性研究.结果 22例行标准根治术或扩大根治术;4例行姑息性切除术;2例行结肠造瘘术.结论 直肠癌的术前辅助化疗降低了局部复发率、提高了手术切除率、增加了保肛率.

T型引流管拔除后胆漏的再探讨

目的:探讨拔T管后胆漏的原因及防治策略。方法:回顾性分析2007年至2009年我院出现的5例拔T管后胆漏患者发生胆漏的原因、治疗方法及效果。结果:3例首选非手术治疗治愈,2例经非手术治疗观察效果不佳,转手术治愈。结论:拔T管后胆漏与多种因素有关,应根据腹膜炎的情况、病情轻重选择手术或非手术治疗。

食管癌手术后早期肠内营养53例临床分析

目的 探讨食管癌根治术后早期肠内营养的临床疗效。方法 回顾性分析 10 6例食管癌根治术病人术后营养支持方法 ,随机抽样分为术后早期肠内营养及完全胃肠外营养 (TPN)组 ,各 5 3例 ,观察其胃肠功能恢复情况。结果 肠内营养组胃肠功能恢复时间为 (5 6.2± 16.92 )h ,出现并发症 3例 ;TPN组胃肠功能恢复时间 (82 .8± 2 5 .5 8)h ,出现并发症 10例。结论 早期肠内营养能缩短胃肠功能恢复时间 ,减少并发症 。

基于STM32微控制器的纸张缺陷检测系统

针对传统人工纸张缺陷检测方法既不可靠又耗时的缺点,本文采用一种基于STM32高性能微控制器的纸张缺陷视觉检测系统,能快速准确地识别出纸张缺陷。该系统利用摄像头采集纸张图像,由微控制器对纸张图像进行去噪和直方图均衡化等预处理后,通过边缘检测提取出缺陷图像,对缺陷大小和位置进行准确判断。实验结果表明该系统检测方法简单、判断准确和实时性好。

一种基于V93000的高速缓冲器测试方法

普通的缓冲器芯片频率大多只有1~20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展。这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求。该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法。

基于J750EX的多时序看门狗测试方法

该文针对多时序看门狗电路的基本功能和时间参数,总结了看门狗关键参数的测试方法,使用J750EX测试系统的DSIO模块,以MAX6822-XX看门狗电路为例,使用单个模块测得多个不稳定的时间参数,解决了以往看门狗无法精确测量多个周期的问题,同时使用单个测试向量,极大地缩短了测试时间。