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题名超支化多元醇对丁羟聚氨酯灌封胶力学性能影响的研究
被引量:6
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作者
张卿彦
唐淑贞
刘兴海
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机构
武汉大学
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出处
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第11期73-75,79,共4页
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文摘
采用两种超支化多元醇为交联剂制备了丁羟聚氨酯灌封胶。红外测试结果表明:丁羟聚氨酯灌封胶具有聚氨酯的化学结构;力学性能测试结果表明:相同硬段含量下,与以甘油交联的丁羟聚氨酯灌封胶相比,超支化聚氨酯5代交联得到的丁羟聚氨酯灌封胶的拉伸强度提高了约130%,超支化聚醚5代交联得到的丁羟聚氨酯灌封胶的断裂伸长率提高了约97%。
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关键词
超支化多元醇
丁羟聚氨酯灌封胶
力学性能
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Keywords
hyperbranchedpolyol, HTPB polyurethane sealant, mechanical property
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分类号
TQ433.432
[化学工程]
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题名现代半导体研制的内建可靠性方法
被引量:2
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作者
曾繁中
简维廷
王伟
张卿彦
蔡炳初
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机构
交通大学微纳米科学技术研究院
中芯国际集成电路制造有限公司
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第6期13-20,共8页
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文摘
为满足半导体技术的高速发展与进步的要求以及客户对产品的性能、服务、运送、质量及可靠性等方面的期望,我们有必要尽早地把有缺陷的产品从生产线上鉴别出来,并采用更为有效的方法来开发、验证及监控工艺过程。传统的测试式可靠性方法,主要在生产线末端通过老化、品质管理、可靠性测试和失效分析等手段来鉴别或评估可靠性失效率,由于其测试周期长,已不再适用于现代半导体工业。内建可靠性方法正好相反,它具有迅速反馈、早期预警和循环控制等优点。对半导体制造业来说,内建可靠性方法由两大部分组成:圆片级可靠性系统和内建可靠性数据库。我们已经成功地运用此方法完成了从0.35~0.13μm技术的产品可靠性认证和工艺监控。
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关键词
内建可靠性
测试式可靠性
半导体
圆片级可靠性
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Keywords
BIR
TIR
semiconductor
WLR
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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