镍闪速熔炼过程数值仿真

采用数值模拟软件对国内某大型镍厂闪速炉内气相的速度、温度、浓度及不同粒径颗粒的速度和温度分布特性进行研究。研究结果表明:通过COMSOL软件模拟后,喷嘴喷入的混合气流入炉后发生膨胀,在闪速炉内形成涡流,并会向反应塔上部运动发生回流;氧化反应主要发生在离反应塔中心1.2 m区域内,在距塔顶5.59 m处氧化反应基本完成,且氧气未被完全消耗,沉淀池出口氧气体积分数为7.70%;喷嘴下方和反应塔中下部存在局部高温区域,反应塔中上部区域出现低温区域;小粒径混合物料颗粒与大粒径混合物料颗粒相比受气体影响程度较大,达到的最大速度更大,且由于着火点低,温度上升较快,控制混合物料颗粒粒径在60~80μm之间熔炼反应效果较好。

瞬态电压抑制器在快上升沿电磁脉冲作用下的瞬态响应

为了研究瞬态电压抑制器(TVS)对快上升沿电磁脉冲的响应,基于传输线脉冲(TLP)测试理论,建立了由高频脉冲发生器、同轴电缆、专用测试夹具、30dB脉冲衰减器和高性能的数字存储示波器等组成的测试系统。参考时域传输(TDT)TLP测试方法,利用该测试系统,对典型双极TVS器件在快上升沿电磁脉冲作用下的电流特性和电压特性进行了研究,并对试验数据进行了拟合分析。结果表明,TVS器件的箝位电压、峰值电流等参数均随着测试电压的增大而增大,且与测试电压呈线性关系;而由箝位电压决定的箝位响应时间受测试电压的影响较小。经对比分析实验结果得出,对快沿电磁脉冲,采用固定响应时间下的箝位电压来衡量TVS器件的防护性能是较为合理的。

静电模拟器放电开关辐射场特性研究

研究了在静电放电抗干扰实验中模拟器内部放电开关动作对测试结果造成的影响．在保证放电电流满 足IEC61000-4-2标准的前提下,对模拟器采取了一定的屏蔽措施,在此基础上进行了模拟器屏蔽前后性能测 试及静电放电抗干扰实验．实验结果表明:ESD模拟器自身屏蔽是有问题的,其内部继电器放电开关的动作也 会产生强电磁场,对ESD辐射场造成影响,从而影响被测试件的静电放电敏感性测试结果．由此证明IEC61000 -4-2对静电放电模拟器只规定放电电流波形及其参数是不够的,还需进行更详细的规定,尤其是电流导数波 形和辐射场的规定．

航空发动机试车中转子故障诊断

航空发动机成本高，寿命低，难维护；发动机故障造成飞机失事的例子时有发生，倍受人们的重视；据统计，该类故障中的80％来自于结构复杂、高速旋转的转子部件；讨论生产试车中转子振动故障的早期诊断技术，首先分析转子、叶片、轴承、齿轮故障的特征；而后通过实时的功率谱、倒频谱分析技术识别与此特征对应的故障位置、类型及程度；最后以某型发动机转子振动的实例说明该项技术的实际应用。

静电放电保护器件性能测试技术研究

为准确测试静电放电(ESD)保护器件的性能、解决ESD产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响,本文研制了基于微带设计和电磁场屏蔽理论的专用测试夹具,评价了该夹具的传输特性,建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统.利用该系统测试了某型号ESD保护器件的限幅响应时间、箝位电压和峰值电流等性能参数.测试结果表明,该测试系统能够满足ESD保护器件性能测试要求,可广泛应用于ESD保护器件设计和优化研究.

不同特征频率高频硅双极晶体管静电放电机器模型敏感特性

为了发掘不同特征频率的高频硅双极晶体管在静电放电(ESD)机器模型(MM)作用下敏感特性的相关规律,选取了12种典型的高频硅双极晶体管进行静电放电效应试验。试验结果表明:由于发射极E基极B之间的PN结(EB结)基区宽度比集电极C和基极B之间的PN结(CB结)窄,因而反偏注入MM ESD时,高频硅硅双极晶体管(BJT)的ESD最敏感端对是EB反偏结;当特征频率fT=600 MHz时,失效电压最大,并且随着fT的升高或降低,器件的失效电压逐渐减小;随着注入电压的升高,当fT≤600 MHz时,共发射极电流增益hFE突变至失效,当fT>600MHz时,hFE渐变至失效。该研究结果对于分析高频硅BJT在ESD作用下的敏感特性具有指导意义。

微带线在快速脉冲防护器件性能测试中的应用

分析了电磁脉冲防护器件性能测试中的关键技术问题,给出了脉冲信号不失真传输的处理方法;基于微带传输线设计,研制了适合快速电磁脉冲防护器件性能测试的专用夹具,利用矢量网络分析仪评价了该测试夹具的传输特性.实验结果表明:在快速脉冲防护器件性能测试中采用微带线进行快速脉冲传输,有效地解决了强电磁脉冲场产生的辐射场及高频反射对测试结果的影响,提高了脉冲信号的传输质量,使测试结果最大程度地体现了防护器件本身的特性.

聚合物ESD抑制器抑制特性的测试方法

为了消除静电放电时产生的辐射场对静电放电抑制器测试结果的影响,基于法拉第笼的屏蔽效应、依据国际电工委员会IEC61000-4-2标准和国军标GJB911-1990,利用静电放电模拟器和静电放电电流波形测试装置等设备,测试了某型号聚合物静电放电抑制器的抑制特性。测试结果表明,采用IEC61000-4-2标准规定的电流靶结合法拉第笼的方法,测试静电放电时通过抑制器的电流,能够保证电流波形不失真;而加在抑制器两端的电压,须使用有效带宽足够宽的电压探头配合示波器来测量,同时应尽可能消除静电放电时产生的辐射场对电压探头的影响。

静电放电模拟器辐照效应实验研究

对模拟器ESS-200AX与NSG435的静电放电(ESD)电流波形及其辐照效应实验进行了研究.实验结果表明,虽然两模拟器的放电电流波形均符合国际电工委员会IEC61000-4-2静电放电抗扰度实验标准,但进行辐照效应实验时,二者的测试结果并不一致.这主要是因为IEC标准只规定了放电电流的波形,而对模拟器放电枪的结构和外形未做出规定,使静电放电电磁场尤其是近区电磁场存在差异.要解决不同模拟器间测量结果的不一致性,IEC的相关标准除了规定放电电流的波形外,还应对放电电流的导数波形和相关的电磁场做出规定,尽量对放电枪的形状和结构给出统一的标准.

食管癌切除术预防吻合口狭窄的术式研究

目的:探讨食管癌切除术中预防吻合口狭窄的术式和临床效果。方法:将接受食管癌切除术120例病人分为两组,治疗组60例施行改良胃食管吻合术,对照组采用传统的方法,胃食管单纯吻合法。结果:治疗组60例病人术后随访3～24个月,通过食道吞钡摄片或胃镜检查,提示无吻合口狭窄。对照组60例术后随访3～24个月,通过胃镜或食道吞钡摄片证实15例有不同程度的吻合口狭窄。结论:改良胃食管吻合术有降低食管癌切除术后吻合口狭窄发生率的优点。

治疗胸部创伤120例临床分析

目的:探讨研究胸部创伤治疗措施和方法。方法:回顾我院外科自2004年1月～2007年12月共收治胸外伤患者120例病例资料汇总分析。结果:保守治疗的81例中死亡6例,病死率为5.4%,死亡原因:合并颅脑及腹部多发性损伤2例,重度肺挫伤2例,连枷胸、胸主动脉破裂各1例,延迟性血胸1例。手术治疗的39例中死亡4例,病死率为12.1%,死亡原因:心房破裂1例,胸壁内血管广泛出血1例,肺严重撕裂并肺静脉撕裂伤1例,食管破裂各1例。结论:通过综合全面的诊疗措施能够提高胸部创伤患者的生存率。

ESD抑制器抑制特性测试方法

依据国际电工委员会IEC 61000-4-2标准和国军标GJB 911-90,用静电放电模拟器和静电放电电流波形测试装置等设备对某型号静电放电抑制器的抑制特性进行了测试.测试结果表明:采用IEC 61000-4-2标准规定的电流靶结合法拉第笼的方法测试静电放电时通过抑制器的电流,能够保证电流波形不失真;而加在抑制器两端的电压须使用有效带宽足够宽的电压探头配合示波器来测量,同时应尽可能消除静电放电时产生的辐射场对电压探头的影响.

治疗15例食管胃胸腔内吻合口瘘的临床体会

目的探讨食管胃胸腔内吻合口瘘治疗措施。方法回顾自1994年1月～2003年12月我科行食管癌手术,其中行胸腔内吻合术813例,发生胸腔内吻合口瘘15例。结果15例吻合口瘘患者经治疗12例痊愈出院,3人死亡。结论通过正规治疗吻合口瘘患者的生存率。

影响空气式静电放电特性的相关因素分析

为了提高静电放电特别是空气式静电放电试验结果的重复性,从理论和试验两方面对影响空气式静电放电(ESD)特性的相关因素进行了研究,结果表明:电弧长度是影响空气式ESD特性的一个最直接因素,不同电弧长度会得到差别很大的空气式ESD事件,相同放电条件下,电弧长度越短,峰值电流越大,上升时间越小;其它条件一定的情况下,电极的接近速度会影响到电弧长度而引入时间相关效应,进而影响空气式ESD特性,比如当放电电压一定时,接近速度越快,峰值电流越大,上升时间越小;不同的放电电极极性将产生空间极性效应或空间电荷效应,从而影响空气式ESD特性;不同的环境条件尤其是空气成分与空气湿度对空气式ESD的影响很大。这些研究成果将为空气式ESD的试验规律研究提供理论依据。

空气静电放电若干特性分析

针对国际电工委员会标准IEC61000-4-2静电放电抗扰度试验方法存在的问题,对影响空气静电放电的一个重要因素-电弧结构进行了讨论。在此基础上,利用新研制的静电放电模拟测试系统,分析了接近速度和放电电压对放电电流峰值、上升时间、感应电压峰—峰值以及试验结果重复性的影响。试验结果表明:放电电压一定时,放电电流峰值、感应电压峰-峰值随接近速度的增大而增大;上升时间随接近速度的增大而减小;在一定的接近速度和放电电压下,空气静电放电也可以实现较好的重复性。这些规律性的试验结果,为建立静电放电抗扰度试验新方法提供了依据。

IEC 61000-4-2标准试验平台的局限性分析及其完善的探讨

为解决国际标准IEC 61000-4-2规定的静电放电(ESD)抗扰度试验平台存在的局限性,通过分析ESD模拟器开关动作、ESD电流及其导数、ESD辐射场、试验结果的判定准则和试验方法的不完善规范对ESD抗扰度试验的影响,探讨了IEC标准试验平台问题存在的原因。研究发现,ESD模拟器开关动作对试验结果会产生很大影响,其辐射场是造成试验结果差异的主要原因之一;不同品牌的ESD模拟器会产生不同的放电电流及电流导数,因此会产生不同的试验结果;ESD模拟器的种类及其旋转角度会对ESD辐射场产生很大的影响,进而影响到试验结果的重复性;标准对ESD抗扰度试验方法的不完善规范也是造成试验结果差异的原因。

静电放电和方波EMP对微电子器件的效应

为了得到微波低噪声晶体管电磁脉冲的最灵敏端对和最敏感参数以及相关规律和器件的损伤/失效机理和模式,首先采用静电放电人体模型(HBM),针对两类硅晶体三极管(3DG218、3358)进行了静电放电敏感性相关实验,得到该类晶体管的ESD敏感端对是CB结;器件损伤时的灵敏参数是VBRCEO;又采用方波注入法对两晶体管进行实验比较了从CB结反向注入与从EB结反向注入的损伤电压值,发现该类器件的EMP最敏感端对是CB结而非以往人们认为的EB结。

瞬态抑制二极管电磁脉冲响应建模

针对目前浪涌保护器件性能分析方法不完善、缺乏准确数学模型的问题,提出了一种基于NARX神经网络的电磁脉冲响应时域建模方法,并给出NARX神经网络建模的理论基础及设计步骤。通过组建传输线脉冲测试平台及静电放电实验平台,对NUP2105L型瞬态抑制二极管进行注入实验,采集输入输出实验数据并建立NARX神经网络模型。对建模效果进行分析,所建模型可以较为准确地预测输入脉冲为方波脉冲、人体金属模型及机器模型静电放电电磁脉冲时,响应电压曲线趋势、响应时间、脉冲峰值、箝位时间及箝位电压等性能指标,验证了模型的正确性。

高频小功率硅双极器件ESD潜在失效的无损检测方法

目前国内外研究人员多集中于研究MOS器件和GaAs器件的静电放电(ESD)潜在性失效,而对高频小功率硅双极晶体管的静电放电潜在性失效则研究较少。为此,参考国内外研究人员的研究结果,选择采用高温反偏法、低频噪声法以及电参数测量法来对高频小功率硅双极晶体管静电放电潜在性失效的无损检测方法进行了较为细致的分析研究。通过详细比较后可以确定,高温反偏法和低频噪声法均不能用来检测高频小功率硅双极晶体管的静电放电失效,也就更不能用来检测判别此类器件的静电放电潜在性失效。最后,通过对多个电参数的测量与对比发现,高频小功率硅双极晶体管集电极-基极反偏结漏电流的大范围变化可以表征此类器件静电放电潜在性失效的存在。

不同处理对甜叶菊种子出苗率和幼苗生长的影响研究

通过晒种、温水浸种、种子去冠毛和赤霉素浸种4种种子处理,以不做处理的种子做对照,对种子出苗和幼苗生长进行测定。结果表明:各处理对种子出苗和幼苗生长均好于对照,其中,种子去冠毛明显好于其它处理,出苗率比对照高11.7%,苗重比对照多0.185 g/株,而其它处理间差异较小。由此可以看出,对种子去冠毛处理效果最佳,可在生产中大力提倡和应用。