基于高光特征的表面粗糙程度检测

通过分析高光特征与表面粗糙程度的关系,提出了一种基于高光特征的表面粗糙程度检测方法。高光存在会使图像局部产生颜色畸变导致信息丢失,通常被当作噪声筛除。但高光区别于过曝,也能通过亮度震荡的形式反映表面粗糙程度。针对这一信息,提出高光特征的概念;对比经典的光照模型,搭建针对高光特征这一局部特征的Highlight模型。通过最小二乘法多项式曲线拟合得到亮度趋势拟合曲线,Highlight模型检测高光特征,使其应用于表面粗糙程度检测。对瓷砖的检测实验表明了基于高光特征的表面粗糙程度检测的有效性。