1
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电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硅中硼等13个杂质元素 |
宋武元
张桂广
郑建国
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《理化检验(化学分册)》
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
30
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2
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ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素 |
张桂广
黄奋
孙晓纲
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《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2000 |
32
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3
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ICP-AES法测定压铸锌合金中主、次和微量杂质元素 |
张桂广
孙晓纲
宋雪玲
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《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
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2000 |
16
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4
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ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素 |
张桂广
马立奎
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《光谱实验室》
CAS
CSCD
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2000 |
6
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5
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ICP-AES法直接测定仲钨酸铵中钠、钾含量 |
张桂广
刘韶俊
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《光谱实验室》
CAS
CSCD
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1999 |
1
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6
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沉淀分离ICP-AES测定铅锭中Te、Cr、Co、Ni杂质元素 |
张桂广
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《广东微量元素科学》
CAS
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1998 |
1
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7
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电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定金属硅中微量和痕量杂质元素 |
宋武元
卞群州
梁静
郑建国
张桂广
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《检验检疫科学》
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2004 |
6
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8
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写景作文三要点 |
张桂广
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《小学生文摘》
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2010 |
0 |
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