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国内外LCD发展动向 被引量:8
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作者 万博泉 张百哲 +1 位作者 高鸿锦 刘培正 《光电子技术》 CAS 1998年第1期23-28,共6页
介绍了世界LCD市场发展势头和LCD技术发展动向,综述了世界主要国家和地区LCD产业现状和发展趋势,详述了我国液晶显示技术发展和产业现状。
关键词 LCD 液显显示器件 技术发展
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THLC-2型液晶特性测试仪的研制 被引量:1
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作者 雷有华 张百哲 +1 位作者 梁振波 蔡霞 《电子技术应用》 北大核心 1999年第11期35-37,共3页
介绍THLC-2型液晶特性测试仪,该测试系统应用程序通过驱动步进电机的专用插卡实现对样品的入射光线角度和接收光线角度的控制;通过RS232-C串行通讯口与THLC-2型液晶特性测试仪实现通讯,可进行测试条件预置、测试数据采集、测试数... 介绍THLC-2型液晶特性测试仪,该测试系统应用程序通过驱动步进电机的专用插卡实现对样品的入射光线角度和接收光线角度的控制;通过RS232-C串行通讯口与THLC-2型液晶特性测试仪实现通讯,可进行测试条件预置、测试数据采集、测试数据后处理等功能。外接打印机,可打印各种曲线和参数。 展开更多
关键词 液晶特性测试仪 THLC-2型 液晶 显示材料
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对比度高及盒间隙大的双稳态扭曲向列相液晶显示 被引量:1
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作者 解志良 高鸿锦 +2 位作者 张百哲 徐寿颐 郭海成 《现代显示》 1999年第4期8-13,共6页
用参数空间方法优化了(0, 2π)BTN液晶盒的光学性质, 从而发现新的(0,2π)BTN显示模式具有更高的对比度和更大的dΔn 值。实验表明,对比度最高可达250:1。在- 80°~+ 80°水平视角范围内对比... 用参数空间方法优化了(0, 2π)BTN液晶盒的光学性质, 从而发现新的(0,2π)BTN显示模式具有更高的对比度和更大的dΔn 值。实验表明,对比度最高可达250:1。在- 80°~+ 80°水平视角范围内对比度仍不低于80:1。较大的dΔn 展开更多
关键词 对比度 盒间隙 液晶 显示BTN-LCD
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α-Si TFT有源矩阵液晶显示器的研制进展
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作者 孟志国 代永平 +26 位作者 周祯华 张建军 姚仑 谷纯芝 李俊峰 吴春亚 熊绍珍 赵颖 王丽莉 徐温元 袁庆鹏 黄宇 李树山 莫希朝 马京涛 王德申 孙钟林 李庆诚 马锦 耿卫东 李德林 李红玉 赵晶 雷宗保 徐寿颐 张百哲 张伟 《液晶与显示》 CAS CSCD 1996年第4期268-285,共18页
本文全面介绍了我们在α—SiTFT—AMLCD“八五”科技攻关研究中的TFT矩阵模拟与优化设计、性能改善、提高矩阵板一致性与完整性、液晶封屏以及视频显示设计与实现等方面所做的工作。并在南开大学形成的一个集中的TFT—... 本文全面介绍了我们在α—SiTFT—AMLCD“八五”科技攻关研究中的TFT矩阵模拟与优化设计、性能改善、提高矩阵板一致性与完整性、液晶封屏以及视频显示设计与实现等方面所做的工作。并在南开大学形成的一个集中的TFT—LCD研制线上,最终研制出具有视觉感受无缺陷的α—SiTFT—AMLCD视频图象显示器。 展开更多
关键词 α-Si TFT-LCD 研制线 完整性 视频显示
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基片表面预倾角的测量方法
5
作者 徐寿颐 张百哲 《光电子技术》 CAS 1994年第2期108-113,共6页
液晶分子在基片表面预倾角的大小对液晶显示器件的质量有很大的影响,预倾角大小的控制及测量是实现 STN 显示的关键技术之一。本文详细地介绍了测量预倾角的几种方法,比较了几种测量方法的优缺点。在 STN 显示中,一般要求2°~7... 液晶分子在基片表面预倾角的大小对液晶显示器件的质量有很大的影响,预倾角大小的控制及测量是实现 STN 显示的关键技术之一。本文详细地介绍了测量预倾角的几种方法,比较了几种测量方法的优缺点。在 STN 显示中,一般要求2°~7°的表面预倾角,采用晶体旋转法并对计算公式进行适当的校正,可保证测量的精确度达±0.1°,且容易实现仪器化。 展开更多
关键词 液晶显示 表面排列 预倾角 测量
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PI层摩擦效果检测方法的比较研究
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作者 张建红 周福民 +1 位作者 张百哲 朱鹤年 《液晶与显示》 CAS CSCD 1996年第2期118-122,共5页
本文对几种PI层摩擦效果的微双折射检测方法的原理、实施难点、准确度和方案特色等进行了比较分析和研究,介绍了旋转检偏法改进要点和我们的实验结果。
关键词 PI层 双折射检测 液晶生产
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自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用 被引量:1
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作者 吕正德 朱鹤年 张百哲 《激光与光电子学进展》 CSCD 1999年第S1期100-103,共4页
简要介绍了椭圆偏振测量术的基本原理,并对自动椭偏仪进行了介绍。由于自动椭偏仪具有无损探测、测量准确度高和测量迅速等特点,它非常适合用于LCD薄膜系统光学性质的在线测量。
关键词 椭圆偏振测量术 自动椭偏仪 LCD 薄膜
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