水热氢还原制备高包覆率镍包石墨

镍基固体自润滑材料具有良好的高温性能,镍石墨自润滑材料作为镍基固体自润滑材料受到广泛关注。通过水热氢还原工艺制备表面包覆率高达90%以上的镍包石墨,为金属-镍包石墨自润滑复合材料的制备提供物质基础。

准半球型CdZnTe探测器能谱特性的影响因素

为解决CdZnTe(CZT)探测器空穴拖尾的问题,基于Shockley-Ramo原理,采用GEANT4和COMSOL有限元软件,模拟计算了准半球型CZT探测器对137Cs@662 ke V的能谱响应。模拟结果表明:(μτ)e范围为(1~10)×10-3cm2/V时适合采用准半球型探测器的结构设计;(μτ)h对能谱的影响较小;(μτ)e和(μτ)h相差较大时,能量分辨率较好,但是当(μτ)h增大时,拖尾现象开始逐渐显现;提高(μτ)e和探测器偏压均可改善能谱特性。根据模拟计算出的最优探测器参数制备了尺寸为10 mm×10 mm×5mm的准半球型CZT探测器,其对137Cs@662 ke V的能量分辨率为1.17%,峰康比为6.86。

离心加速度对自蔓延离心法制备WC_x/Fe金属陶瓷组织的影响

采用自蔓延离心法制备WCx/Fe金属陶瓷内衬钢管,研究离心加速度对金属陶瓷组织的影响。结果表明,当离心加速度为50g时,涂层中存在氧化铝陶瓷相,随着离心加速度的增加,涂层组织由树枝晶向等轴晶转变。当离心加速度为200g时,涂层中的硬质相呈梯度分布。

CdZnTe单晶表面原子结构

半导体表面是一个特殊区域,其表面原子结构与体态有很大区别,而且他们对材料的整体性能又起着十分重要的影响。本文通过真空Ar+离子刻蚀并原位退火的办法,获得理想清洁的CdZnTe单晶表面,采用低能电子衍射(LEED)观察了(110)、(111)A面和(111)B面的表面原子结构。发现(110)面为稳定面没有发生重构,而在(111)A面上发现了由空位形成的(31/2×31/2)R30o重构,在(111)B面上发现了由Te顶戴原子形成的(2×2)重构。

溅射工艺参数对MgF_2薄膜光学性质的影响

采用射频磁控溅射工艺,在紫外熔融石英衬底上制备了MgF_2薄膜。通过改变溅射功率和氩气流量,研究了主要溅射工艺参数对薄膜结构和光学性质的影响规律。试验结果表明,选择合适的溅射功率和氩气流量可以提高MgF_2薄膜的光学性质,有利于MgF_2薄膜在紫外波段的应用。

俘获和去俘获对Au/HfO_2界面导电机制的影响（英文）

主要研究了经不同温度退火后HfO_2高k栅介质薄膜的电流电压特性,结果表明,在栅极入射下,漏电流与Au/HfO 2界面处的陷阱密度密切相关,在高电场下,Au/HfO_2/p-Si结构的主要导电机制为Schottky发射和Poole-Frenkel发射。研究了电压应力对栅介质薄膜稳定性的影响,由于局部导电通道的形成,经时电介质击穿(TDDB)现象被观察到。