精细X荧光光谱中伪峰剔除方法的研究

在高计数率背景下,采用数字慢三角成形处理算法的高性能硅漂移探测器X荧光光谱全能峰受到伪峰严重干扰。介绍了一种新型的剔除伪峰干扰的方法,详细阐述了该方法中数字三角形成形、信号甄别和伪峰判断等技术要点。以55Fe核素和岩石样品为实验对象,对比伪峰剔除前和剔除后得到的X荧光能谱,结果证明该方法能够较好地消除谱线图中的伪峰。因而,在精细X荧光能谱分析时,该方法能够提高能谱的峰背比和痕量元素的分析精确度。

论测控技术与仪器发展现状

测控技术和仪器在经过长久的技术沉淀之后已然成为科技创新发展的重中之重,并在一定程度上可以对职业的正常开展产生影响。测量控制在一定程度上影响着制造业的开展,可以说现代制造业少不了测控技术,它技能含量高,相对困难,但在实践生产中更普遍运用,对工业的开展具有重要意义。