用扫描电镜测量纳米级标准长度的倾斜误差计算

用扫描电镜测量纳米级长度的时候[1, 2],被测长度的倾斜会导致被测长度产生误差,通常称其为倾斜误差.本文对于倾斜误差进行了实验和分析.给出了倾斜误差与倾斜角度的关系公式和对应数据表,同时提出了减小或消除倾斜误差的方法,为提高测量准确度,建立标准测量方法[3],创造了条件.……

纳米级长度扫描电镜测量的现状和展望

本文首先根据计量法规,介绍有关“纳米测量”的基本概念,其中主要有:“纳米”、“测量”、“纳米长度”、“纳米标准器具”、“纳米测量仪器”、“纳米测量方法”等。然后介绍纳米级长度测量的概况。重点介绍纳米级长度扫描电镜测量技术的发展历程和现状。最后展望扫描电镜测量的发展趋势。

奇妙的密度测金法

检测金制品含金量的方法很多,归纳起来可以分为两大类。第一类是破坏性的方法,主要有:火试金法、发射光谱法、火焰原子吸收光谱法、质谱法等;第二类是非破坏性方法,主要有:x射线荧光法、电子探针法、密度法、比色法等。对于商品质量检验,一般不允许破坏制品,所以需要采用非破坏性的方法。本文重点讨论非破坏性方法的检测误差,从而体现出密度测金法的奇妙之处。