基于主从式架构的光强度检测系统

描述了一种基于主从式架构,从机基于STM32F107的32位微处理器实现光强度数据采集,主机应用C#编程语言实现数据处理的光强度检测系统。该系统在主机端采用串口通信类库,实现程序对光强板、程控电源、PLC的控制和数据接收。主机程序的核心功能还包括光强标定和二次校准,修正硬件因素和外界条件存在的误差。系统对接收到的数据做优化处理并转换为需要的格式,样品测试的曲线分别在极坐标、直角坐标和数据列表中显示,便于数据分析。该系统可广泛应用于光源与照明领域。