正极性聚四氟乙烯薄膜驻极体电荷储存寿命的改善

研究了栅控恒压正电晕充电后的聚四氟乙烯薄膜驻极体的电荷输运特性,并对其电荷储存稳定性加以改善.结果显示在约100℃以下的较低温区和高于180℃以上的较高温区内慢再捕获效应控制着脱阱电荷的输运;而在100～180℃的温区内由慢再捕获效应过渡为快再捕获效应后再回到慢再捕获效应.经改性后的正、负极性PTFE薄膜驻极体不仅具有相近的电荷储存密度,而且在一定的温度区间内它们的电荷储存和衰减呈现类似的规律.

压力膨化处理和充电方法对PP蜂窝膜压电性的影响

以压力膨化技术处理改性商用SHD50型聚丙烯蜂窝膜(PP Cellular),它们的压电 d33 系数可达193pC/N,比未经处理的样品提高了约 2 个数量级。利用点电晕充电,接触法充电和动态压电 d33系数测量研究了上述2种不同充电方法对 SHD50 膜压电性的影响。

用作Si基微型传声器中驻极体层的电荷寿命及其表面电导

通过对化学表面修正前后的氮氧化硅复合膜的表面电导率的测量和电荷横向扩散效应的考察,讨论了化学表面修正工艺对样品中电荷横向扩散的抑止作用.借助与未经平面工艺处理的氮氧化硅复合膜大片的对比,研究了这类驻极体功能膜的微型化对其电荷寿命的影响.

榆林市大果榛子栽培管理技术

大果榛子是适于我国很多地区栽植的优良坚果树种,果实营养丰富。本文结合前期在榆林的引种试验结果,收集并参考国内大果榛子栽培管理经验以及榆林市气候特征,主要从品种与栽植地块选择、栽植方式与土壤管理、整形修剪、病虫害防治等方面提出了适于榆林市大果榛子栽培技术。

响应面法优化狮头柑果皮总黄酮提取工艺

为探索狮头柑总黄酮提取工艺,以狮头柑果皮为对象,以总黄酮得率为指标,在单因素试验的基础上选择3组较优水平,对提取温度、提取时间、超声功率3组因素运用Box-Benhnken试验设计优化狮头柑果皮的总黄酮提取工艺。结果表明,狮头柑果皮提取总黄酮的工艺参数为:料液比1∶35(g∶mL^(-1))、提取温度60℃、提取时间33 min、超声功率70 W,总黄酮得率2.258%;拟合模型为:Y=2.27+0.048×A+0.14×B-0.065×A^(2)-0.25×B^(2)-0.13×C^(2)(R_(adj)^(2)=0.944 9)。研究结果可为狮头柑资源能更好地开发利用提供新思路,也能为狮头柑产业的发展提供新的方法,有利于增加狮头柑的附加值。

榆阳区地形和栽植方式对大扁杏成活与结果的影响

大扁杏作为我国“三北”地区主要经济树种,在促进生态防护林建设、提高经济收益中发挥着重要作用,早春晚霜冻是造成其减产甚至绝收的关键因素。榆阳区多年生产发现栽植方式和坡向对大扁杏成活率以及产量有一定影响,春季缠杆覆膜栽植技术可有效防止苗木抽干,栽植成活率91.67%;北坡最有利于栽植成活和形成产量,其次为东坡,西坡最不利;建议栽植时,优先选择北坡,其次是东坡,尽可能避免选择西坡。

聚丙烯蜂窝膜驻极体压电系数的测量及压电性的改善

利用介电谐振谱分析了聚丙烯蜂窝状原生膜 (PPCellular,PQ5 0型 )的力学及介电参数 ,测得其压电系数d33约为 18pC N .经合理的压力膨化工艺处理后 ,其d33可增加至 36 7pC N ,比久负盛名的铁电聚合物聚偏氟乙烯 (PVDF)的d33高 2 0倍以上 ,也高于压电陶瓷锆钛酸铅 (PZT)的相应值 .

正充电聚四氟乙烯薄膜驻极体的电荷储存及其动态特性

研究了栅控恒压正电晕充电的聚四氟乙烯 (PTFE)薄膜驻极体的电荷储存与输运特性 .结果显示在 10 0℃以下的较低温区和高于 15 0℃ ,尤其是高于 180℃的较高温区内慢再俘获效应控制着脱阱电荷的输运 ;而在约 10 0—15 0℃的温区内快再俘获效应占主导地位 .初始表面电位的增加将导致电荷密度衰减加剧 ,通过合理控制充电参数和组合热处理工艺 ,可使同样储存有足够高的电荷密度的正负充电的PTFE薄膜驻极体既显示出相近的电荷储存寿命 。

充电参数对聚丙烯蜂窝膜驻极体压电性的影响

通过接触法充电、恒压电晕充电,以及开路热刺激放电技术,对充电参数(例如充电电压,充电时间和充电温度等)对聚丙烯蜂窝膜(PP cellular)驻极体的压电性及其热稳定性的影响的研究,并从孔洞型薄膜压电体的材料结构和理论模型出发,讨论了这些参数对其影响的原因,分析了与压电活性密切相关的空间电荷的动态特性.结果表明,合理地优化充电参数,能使这类呈闭合孔洞的聚合物蜂窝膜驻极体的压电性及其稳定性得以改善,为拓宽这类新型压电功能膜应用领域,推动其产业化进程提供了一定的理论和技术依据.

厚度对非极性聚合物薄膜驻极体电荷储存及电荷动态特性的影响

以DuPont公司的商用TeflonFEPA型薄膜为例 ,通过热脉冲技术、等温表面电位衰减测量和开路热刺激放电电流谱分析等实验结果 ,讨论了经常温和高温电晕充电后样品厚度对薄膜驻极体的沉积电荷密度、薄膜驻极体的内电场、体电导率以及电荷储存稳定性的影响 .通过热脉冲技术组合电导率 温度曲线的测量 ,研究了在不同温度条件下样品厚度对沉积电荷层的平均电荷重心移动的影响 .结果表明 :在充电参数一定的条件下 ,随着膜厚的降低 ,储存电荷密度上升 ,但电荷稳定性有所下降 .因此 ,合理地调控薄膜厚度 。