Speed limit effect during lane change in a two-lane lattice model under V2X environment

Speed limit measures are ubiquitous due to the complexity of the road environment,which can be supplied with the help of vehicle to everything(V2X)communication technology.Therefore,the influence of speed limit on traffic system will be investigated to construct a two-lane lattice model accounting for the speed limit effect during the lane change process under V2X environment.Accordingly,the stability condition and the mKdV equation are closely associated with the speed limit effect through theory analysis.Moreover,the evolution of density and hysteresis loop is simulated to demonstrate the positive role of the speed limit effect on traffic stability in the cases of strong reaction intensity and high limited speed.

X射线TICT在复合材料工件检测中的射束硬化拟合校正研究

X射线TICT中,X射线透射物质时,发生了能谱硬化现象。使图像重建时出现伪影。因此必须进行修正。文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了X射线TICT在检测复合材料工件中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,首先拟合出射束和与透射厚度的关系式,然后推导出X射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法,最终得出X射线TICT在检测复合材料工件中X射线等效单色射线的衰减系数的射束硬化拟合值,再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线TICT在检测复合材料工件中射束硬化造成的影响。

连续谱X射线在ICT中的能谱硬化修正模型

X射线ICT中,由于连续谱X射线源在穿过物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,也就是发生了能谱硬化现象。如不加修正,必引起赝像。文中对能谱硬化现象进行实验和理论上的分析,探讨了在均匀物质中,X射线的衰减系数与透射厚度的关系,提出新的能谱硬化修正方法和严谨精确的能谱硬化修正模型。

X射线TICT在复合材料工件检测中的能谱硬化修正模型

X射线TICT中,由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,也就是发生了能谱硬化现象。如不加修正,必引起赝像。文中对能谱硬化现象进行了分析,探讨了X射线TICT在复合材料工件检测中,X射线的衰减系数与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与复合材料作用的特点,推导出X射线TICT在复合材料工件检测中,严谨精确的能谱硬化修正模型及其修正方法。对修正后的衰减系数再做卷积反投影重构,即可有效消除能谱硬化造成的影响。

高精度STM.IPC-205BJ型原子力显微镜的设计

在成功研制高精度IPC-205B型STM基础上对硬件设计和软件配备进行改进,研制开发了更高精度和应用更广的原子力显微镜。阐述该原子力显微镜的工作原理、组成及应用,详细介绍镜体的独特设计与控制过程、微悬臂的制作与工作过程。该样机采用简单适用的新型微悬臂,利用扫描隧道显微镜检测微悬臂的起伏,通过四维机械驱动和双压电陶瓷扫描,能够有效提高扫描精度、扩大扫描范围。该原子力显微镜的分辨力为:横向0．1nm,纵向0．01 nm。给出该机型检测的几种样品的扫描图像。

一种高精度多功能双用原子力显微镜技术及应用

主要研究了一种基于高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜(STM)的新型高精度多功能双用原子力显微镜(AFM)技术及其应用。阐述该原子力显微镜的工作原理、组成及应用,详细介绍了该AFM镜体的独特结构和新型微悬臂的制作及其检测方法。该AFM采用简单适用的新型微悬臂。并利用STM检测微悬臂的起伏,通过四维机械驱动和双压电陶瓷扫描,有效提高了扫描精度,扩大了扫描范围。该机型集AFM和STM功能为一体,其中STM可以单独使用。该机型检测精度可达:横向0.1 nm,纵向0.01 nm。并用该样机进行了样品表面形貌和隧道谱的实验研究。

交通流双车动力学模型与数值仿真

考虑双前车信息对跟驰车辆的影响,建立了改进的新的微观双车跟车模型。在此基础上,按照交通流研究中采用的微观-宏观参量关联关系,推导出改进的宏观交通流双车动力学模型。通过模型稳定性分析得到了该模型线性稳定的判别条件。数值仿真表明该模型能够模拟交通流的堵塞和疏导等实际交通流现象,以及次邻近前车对交通流波动性存在不可忽视的影响。

纳米金刚石的STM观测及其导电机理

用IPC-205B型扫描隧道显微镜(STM)获得了纳米金刚石的三维表面形貌图和扫描隧道谱(STS).把绝缘体金刚石纳米化处理后,在一定的偏压下,获得了纳米金刚石的STM三维形貌图,观测了纳米金刚石表面形貌微观结构,测得了纳米金刚石的扫描隧道谱,估算出纳米金刚石的能隙宽度,并对纳米金刚石隧道谱和导电机理进行了分析.STM/STS实验不仅较好地解释了纳米金刚石导电性能的谱学机理,拓展了STM的应用领域,而且还可以作为绝缘材料纳米化处理后纳米晶粒结构及其能谱特征分析的重要研究手段.

工业CT在工件检测中X射线硬化校正

X射线工业CT中,由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时,能量较低的射线优先被吸收,X射线能量越高,衰减系数越低。也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小。射线随透射厚度增大,变得更易穿透,也就是发生了能谱硬化现象。由于射线硬化现象使图像重建时出现伪影,因此必须修正。文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了在均匀物质中,X射线射束和与透射厚度的关系。并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,拟合出射束和与透射厚度的关系式。然后得出在同一透射厚度时,X射线射束和校正为单色等效射束和的关系及其等效方法。最终得出X射线等效单色射线的衰减系数的拟合值。再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线射束硬化的影响。

X射线TICT中射束硬化拟合校正研究

X射线TICT中,由于射线硬化现象使图像重建时出现伪影。文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了在均匀物质中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,首先拟合出射束和与透射厚度的关系式,然后得出X射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法,最终得出X射线等效单色射线的衰减系数的拟合值,再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线射束硬化的影响。

连续谱X射线在ICT中辐射的散射研究

主要研究了连续谱X射线在透射式ICT中射入待测物质体内时发生的康普顿散射现象和二次射线辐射的散射问题。X射线透射物质时,将引起多次射线。利用连续谱X射线辐射的Beer定律,研究了X射线二次射线与一次射线定量对比关系;由二次射线辐射强度方程求得二次射线强度与透射厚度的定量关系,结果表明二次射线透射强度与能量无关;利用散射光子倾斜同一角度时二次射线的强度微分方程导出了透过平行板的连续谱X射线二次和高次射线辐射强度公式,最终得到透射平行板的连续谱X射线的总强度。

X-ICT中连续谱服从Gauss分布的硬化修正研究

在X射线工业计算机断层扫描成像技术(X-ICT)中,X射线源的能谱I0(E)为入射强度随能量E的分布函数。而分布函数I0(E)与E的关系随X射线管电压不同而变化,需要通过试验测定。入射强度分布函数是大量光子运动的统计规律,由于Gauss分布在统计中的普遍性,同时,相关文献对X射线源能谱的试验研究分析,表明X射线源能谱与Gauss分布的相似性,因此可用Gauss分布来描叙X射线源连续谱I0(E)的分布规律。提出了X-ICT中X射线能谱服从Gauss分布的硬化修正模型和新的软件修正程序方法。

高精度扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙特性的研究

用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱。该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善。由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0.4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低。

X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术在复合材料工件检测中的散射修正

在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术(X-TICT)中,X射线透射物质时,发生了Compton光子散射现象,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此,必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,建立了有效去除X-TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数,即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。

X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析

工业计算机断层扫描成像中,由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,即发生了能谱硬化现象。对能谱硬化现象进行了分析,利用Beer定律和X射线与物质作用的特点,提出了能谱硬化修正模型和数值分析,结合Simpson公式,导出了X射线TICT中修正模型的数值解法及其修正方法。对修正后的衰减系数再作卷积反投影重构,即可有效消除能谱硬化造成的影响。

连续谱X射线在ICT中的散射修正

在X射线工业计算机断层扫描成像技术(ICT)中,连续谱X射线透射物质时,发生了光子散射现象,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。如未修正,必引起赝像。利用X射线透射物质时的X光子散射遵循的Compton散射强度方程,建立了连续谱X射线完整精确的散射修正模型及其修正方法。为有效去除连续谱X光子的散射造成的图像伪影提供比较完善精确的修正模型和修正方法。

X射线ICT检测中康普顿散射效应的影响与修正

在X射线工业计算机层析检测(ICT)中,由于X射线与物质作用发生康普顿散射效应,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。运用康普顿散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,推出X射线ICT中的散射修正公式,并由圆形截面工件散射模型,求出圆形截面工件的具体计算积分限。从探测器探测到的总光子数中减去康普顿散射光子数,即可有效去除散射光子造成的伪影。

交通流多格点预估格子模型与数值仿真

考虑驾驶员对多格点交通流量预估效应,建立了新的交通流多格点预估格子模型。通过线性稳定性分析获得了改进模型的稳定性条件。通过非线性分析得到了扭结—反扭结密度波解,得到了交通流相空间的三个区域:稳定区域、亚稳定区域和不稳定区域。数值仿真验证了考虑驾驶员对多格点的预估效应,能够进一步提高交通流的稳定性。

基于虚拟仿真的《电路分析》相位关系教学研究

正弦稳态电路分析一般采用相量法进行电路特性的分析。相量法用复数把电压电流有效值和相位二要素融合一体。而电压电流的相位关系是正弦稳态电路的难点。文章基于虚拟仿真的软件,教学中通过软件再现电压电流的相位关系,使学生深入理解相位关系的内涵和特征。

电子类专业基础课程教学模式改革与创新研究

电子类专业建设是各个高校重点发展和支持的专业。文章主要探讨电子类专业基础课程的课程体系与课堂教学设计,并对专业基础课程的教学模式进行改革尝试。电子类基础课程教学改革既要形成自身特色的课程体系和教学内容体系,又要挖掘提炼教材内容和学生认知能力,并借助计算机技术,不断改进教学方法和手段,达到提升教学质量的目的。