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DDS技术在高频石英晶体测试系统中的应用 被引量:1
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作者 彭翠悦 王艳林 《现代电子技术》 2012年第22期151-154,共4页
在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统。AD9912是一款直接数字频率合成芯片。一方面,AD9912内部时钟速度可高达1GSPS,并集成了14位数/模转换器,可以直接输出400 MHz信号;另一方面,AD9912的频率控制字为48位,... 在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统。AD9912是一款直接数字频率合成芯片。一方面,AD9912内部时钟速度可高达1GSPS,并集成了14位数/模转换器,可以直接输出400 MHz信号;另一方面,AD9912的频率控制字为48位,可以小于4μHz的分辨率输出信号。由于采用了DDS芯片AD9912作为信号源,所设计的石英晶体测试系统能够在20kHz~400MHz范围内测试石英晶体的串联谐振频率。与国内目前普遍使用的基于振荡器和阻抗计测试方法的测试仪相比,该测试系统具有测试频率范围宽、重复精度高等优点。 展开更多
关键词 石英晶体 串联谐振频率 π网络零相位法 DDS AD9912
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