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采用双等离子体制备非晶态碳膜的研究
被引量:
1
1
作者
王耀辉
张旭
+3 位作者
吴先映
徐元直
张荟星
张孝吉
《北京师范大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期154-157,共4页
采用直流金属磁过滤阴极真空弧(FCVA)制造出Ti和乙炔(C2H2)气体的双等离子体在单晶硅(100)上制备非晶态碳膜.重点研究了乙炔气体和过滤线圈电流对非晶态碳膜的结构、形貌和机械性能的影响.研究结果表明,薄膜中主要成分是TiC,...
采用直流金属磁过滤阴极真空弧(FCVA)制造出Ti和乙炔(C2H2)气体的双等离子体在单晶硅(100)上制备非晶态碳膜.重点研究了乙炔气体和过滤线圈电流对非晶态碳膜的结构、形貌和机械性能的影响.研究结果表明,薄膜中主要成分是TiC,并以(111)作为主晶向;随着过滤线圈电流的增大,薄膜的晶粒度越来越小;薄膜表面的粗糙度逐渐减小,变得更加平整;薄膜的应力减小,可以下降到2.5GPa.薄膜的显微硬度和弹性模量随着C2H2体积流qy(C2H2)的增大而降低,硬度和弹性模量分别可以达到33.9GPa和237.6GPa.非晶态碳膜的摩擦因数在0.1~0.25之间,大大低于衬底材料单晶硅片的摩擦因数0.6.随着过滤线圈电流增大,摩擦因数减小.
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关键词
非晶态碳膜
磁过滤阴极真空弧
过滤线圈电流
乙炔的体积流量
结构和性能
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职称材料
基于数据挖掘的集中监控设备典型缺陷预测方法
被引量:
4
2
作者
肖飞
冷喜武
+1 位作者
徐元直
何忠
《科学技术与工程》
北大核心
2020年第16期6522-6526,共5页
为改善传统方法对监控设备典型缺陷分析结果的不理想,提出了基于数据挖掘技术的集中监控设备缺陷预测方法。预测集中监控设备在未来时间内的相关监控数据,并将其与历史典型缺陷发生期间内的监控数据相似度进行比较,以量化指标的形式对...
为改善传统方法对监控设备典型缺陷分析结果的不理想,提出了基于数据挖掘技术的集中监控设备缺陷预测方法。预测集中监控设备在未来时间内的相关监控数据,并将其与历史典型缺陷发生期间内的监控数据相似度进行比较,以量化指标的形式对集中监控设备的典型缺陷进行预测。实验结果表明,利用所提方法对实际发生的油温异常典型缺陷进行预测,计算出的相似度指标形成了一个峰值,而缺陷未发生时的相似度指标较低,证明本文方法能够较好地体现缺陷发生的可能性,整体应用性较高。
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关键词
数据挖掘
设备缺陷
集中监控
趋势预测
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职称材料
题名
采用双等离子体制备非晶态碳膜的研究
被引量:
1
1
作者
王耀辉
张旭
吴先映
徐元直
张荟星
张孝吉
机构
北京师范大学射线束技术和材料改性教育部重点实验室北京师范大学低能核物理研究所北京市辐射中心
出处
《北京师范大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期154-157,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(50141022)
文摘
采用直流金属磁过滤阴极真空弧(FCVA)制造出Ti和乙炔(C2H2)气体的双等离子体在单晶硅(100)上制备非晶态碳膜.重点研究了乙炔气体和过滤线圈电流对非晶态碳膜的结构、形貌和机械性能的影响.研究结果表明,薄膜中主要成分是TiC,并以(111)作为主晶向;随着过滤线圈电流的增大,薄膜的晶粒度越来越小;薄膜表面的粗糙度逐渐减小,变得更加平整;薄膜的应力减小,可以下降到2.5GPa.薄膜的显微硬度和弹性模量随着C2H2体积流qy(C2H2)的增大而降低,硬度和弹性模量分别可以达到33.9GPa和237.6GPa.非晶态碳膜的摩擦因数在0.1~0.25之间,大大低于衬底材料单晶硅片的摩擦因数0.6.随着过滤线圈电流增大,摩擦因数减小.
关键词
非晶态碳膜
磁过滤阴极真空弧
过滤线圈电流
乙炔的体积流量
结构和性能
Keywords
amorphous carbon films
filtered cathodic vacuum arc
filter coil current
acetylene flow rate
structure and properties
分类号
O53 [理学—等离子体物理]
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职称材料
题名
基于数据挖掘的集中监控设备典型缺陷预测方法
被引量:
4
2
作者
肖飞
冷喜武
徐元直
何忠
机构
上海市电力公司
国调中心
泰豪软件股份有限公司
出处
《科学技术与工程》
北大核心
2020年第16期6522-6526,共5页
文摘
为改善传统方法对监控设备典型缺陷分析结果的不理想,提出了基于数据挖掘技术的集中监控设备缺陷预测方法。预测集中监控设备在未来时间内的相关监控数据,并将其与历史典型缺陷发生期间内的监控数据相似度进行比较,以量化指标的形式对集中监控设备的典型缺陷进行预测。实验结果表明,利用所提方法对实际发生的油温异常典型缺陷进行预测,计算出的相似度指标形成了一个峰值,而缺陷未发生时的相似度指标较低,证明本文方法能够较好地体现缺陷发生的可能性,整体应用性较高。
关键词
数据挖掘
设备缺陷
集中监控
趋势预测
Keywords
data mining
equipment defect
centralized monitoring
tendency projection
分类号
TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
采用双等离子体制备非晶态碳膜的研究
王耀辉
张旭
吴先映
徐元直
张荟星
张孝吉
《北京师范大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2007
1
下载PDF
职称材料
2
基于数据挖掘的集中监控设备典型缺陷预测方法
肖飞
冷喜武
徐元直
何忠
《科学技术与工程》
北大核心
2020
4
下载PDF
职称材料
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