基于FPGA的NAND Flash的分区续存的功能设计实现

传统的控制器只能从NAND Flash存储器的起始位置开始存储数据,会覆盖上次存储的数据,无法进行数据的连续存储。针对该问题,本文设计了一种基于FPGA的简单方便的NAND Flash分区管理的方法。该方法在NAND Flash上开辟专用的存储空间,记录最新分区信息,将剩余的NAND Flash空间划成多个分区。本文给出了分区工作机理以及分区控制的状态机图,并进行了验证。

一种简单可靠离散量信号电路的设计和实现

基于目前航空电子设备离散量输入/输出电路实现复杂,分立器件多,高低温下参数不一致等现象,通过对比分析典型离散量电路,提出了一种简单、高可靠性的离散量信号电路设计,同时由于典型离散量输出电路故障率较高,提出了一种离散量输出信号的过流保护电路设计思路,采用电路仿真软件Multisim进行了功能仿真、容差分析,在实际工程应用中各项实验结果证明,该电路满足实际使用要求,具有很高的稳定性和可靠性。

微进给机构在便携式胰岛素泵中的应用

论文提出了一种微进给机构在便携式胰岛素泵中应用的设计方案,并从总体上介绍了胰岛素泵的硬件和软件设计方案。重点阐述了以AT89C51为核心控制单元的微进绐驱动模块的实现和硬件接口电路,同时讨论了该泵各个模块的基本功能和实现方法。

机载电子设备BIT技术研究

BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。

影响激光熔覆质量的主要因素

激光熔覆层中的组织晶粒度和硬度高,稀释率低,抗摩擦磨损和抗腐蚀性能好;激光熔覆技术能改善零件质量,延长零件使用期限,提高生产系统的安全性和可靠性;本文分析了激光功率、光斑形状尺寸(或离焦量)和扫描速度、基体材料、熔覆层材料、搭接率等工艺参数对激光熔覆质量的影响规律及改善方法。

基于FPGA的NAND FLASH坏块表的设计与实现

在现代电子设备中,越来越多的产品使用NAND FLASH芯片来进行大容量的数据存储,而且使用FPGA作为核心处理芯片与NAND FLASH直接交联。根据NAND FLASH的特点,需要识别NAND FLASH芯片的坏块并进行管理。FPGA对坏块的管理不能按照软件的坏块管理方式进行。本文提出了一种基于FPGA的NAND FLASH芯片坏块表的设计方法,利用FPGA中RAM模块,设计了状态机电路,灵活地实现坏块表的建立、储存和管理,并且对该设计进行测试验证。

基于单片机的等比例采样器的研制

本文介绍了一种简单的等比例采样器系统,该系统以AT89C51单片机为核心,主要包括AD转换部分,设定数据的存储以及设定数据的显示,液晶显示屏与AT89C51的接口．步进电机的控制等几大部分。该系统硬件电路结构简单、稳定、功耗低,较好地实现了等比例采样器所要求的各项功能,所以该系统有很高的实用价值。