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OEM压阻芯片性能测试及装置
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作者 匡石 冯艳敏 +2 位作者 郑东明 徐长伍 张玉喆 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2009年第B11期246-248,258,共4页
OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流... OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理,可根据不同类别的传感器芯片,设置不同的合格判定标准;在击穿电压测试项目中,对反向偏置电压设置实现了开放式管理,可根据不同的要求,设置不同的反向偏置电压,方便了应用。 展开更多
关键词 OEM压阻芯片 桥路电阻 失调电压 漏流 击穿电压 芯片性能测试原理 芯片性能自动测试程序设计
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