原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),又称扫描力显微镜(Scanning Force Microscopy,SFM),是扫描探针显微镜(Scanning probe microscopy,SPM)的一种。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯...原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),又称扫描力显微镜(Scanning Force Microscopy,SFM),是扫描探针显微镜(Scanning probe microscopy,SPM)的一种。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明。展开更多
文摘原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),又称扫描力显微镜(Scanning Force Microscopy,SFM),是扫描探针显微镜(Scanning probe microscopy,SPM)的一种。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明。