肖特基二极管(SBD)结构解剖与分析

本文对四个不同电流容量的进口SBD管芯进行纵向结构的解剖与分析。阐述了金属-半导体表面势垒、多层金属（或合金）的元素、厚度及合金的成份比等。为研制SBD管器件提供了参考。

氮化硅绝缘介质膜的SAM分析研究

本文讨论了扫描俄歇微探针（SAM）的绝缘介质膜分析，重点研究了氯化硅介质膜的SAM分析。借鉴国内外绝缘介质膜的SAM研究成果，通过多种方法消除电荷积累效应，克服SAM仪器本身的局限，取得了满意的分析结果。