提高周期产生器工作速率和分辨力的方法

文章概述了周期产生器的主要性能指标，介绍了加（减）计数法周期产生的原理，提出了提高周期产生器工作速率的方法。介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法，分析了可控振荡法、软件累加法、硬件累加法构成高分辨力周期产生器原理。最后评价了周期产生器的应用。

数模混合集成电路的可测性设计

本文提出了数模混合集成电路的一种可测性设计结构。在IEEE1149.1标准的基础上,用模拟多路分配器与选择器实现对模拟宏单元的隔离、控制与观察。模拟宏单元测试所需的数字控制信号在TAP的控制下扫描输入。这种方法有效地增加了混合信号集成电路的可控制性、可观察性与可诊断性。该方法允许扩充到电路板级与系统级的可测性设计。

基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。

模拟电路结构化可测性设计研究综述

本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。

VLSI与电子系统的层次化可测性设计

论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。