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题名提高周期产生器工作速率和分辨力的方法
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作者
戴昌培
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机构
北京自动测试技术研究所
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出处
《计算机自动测量与控制》
CSCD
1996年第4期19-26,共8页
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文摘
文章概述了周期产生器的主要性能指标,介绍了加(减)计数法周期产生的原理,提出了提高周期产生器工作速率的方法。介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法,分析了可控振荡法、软件累加法、硬件累加法构成高分辨力周期产生器原理。最后评价了周期产生器的应用。
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关键词
周期产生器
工作速率
分辨力
集成电路
测试
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名数模混合集成电路的可测性设计
被引量:1
- 2
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作者
陈庆方
戴昌培
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机构
北京自动测试技术研究所
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994年第2期1-4,共4页
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基金
北京市自然科学基金资助项目
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文摘
本文提出了数模混合集成电路的一种可测性设计结构。在IEEE1149.1标准的基础上,用模拟多路分配器与选择器实现对模拟宏单元的隔离、控制与观察。模拟宏单元测试所需的数字控制信号在TAP的控制下扫描输入。这种方法有效地增加了混合信号集成电路的可控制性、可观察性与可诊断性。该方法允许扩充到电路板级与系统级的可测性设计。
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关键词
混合集成电路
可测性设计
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Keywords
Mixed-signal Circuits, Design For Testability
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分类号
TN450.2
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
被引量:2
- 3
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作者
赵步云
管杰
戴昌培
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机构
北京半导体行业协会测试中心
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出处
《电子工业专用设备》
2005年第8期37-42,共6页
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文摘
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。
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关键词
高速数模转换器芯片
任意波型产生器/模拟捕捉器
数模混合信号芯片测试
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Keywords
High speed D/A converter
AWG/ACP
Testing of mixed signal chipset
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分类号
TN606
[电子电信—电路与系统]
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题名模拟电路结构化可测性设计研究综述
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作者
赵振峰
戴昌培
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机构
北京自动测试研究所
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出处
《微电子测试》
1995年第2期8-13,共6页
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文摘
本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。
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关键词
模拟电路
结构化
可测性设计
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分类号
TN790.2
[电子电信—电路与系统]
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题名可测性设计综述
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作者
陈庆方
戴昌培
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出处
《微电子测试》
1993年第1期7-17,共11页
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关键词
集成电路
可靠性
设计
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名VLSI与电子系统的层次化可测性设计
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作者
陈庆方
吴烈诩
戴昌培
赵振峰
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机构
北京自动测试技术研究所
北京自动测试技术研究所 北京
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出处
《装甲兵工程学院学报》
1996年第3期11-15,共5页
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基金
北京市自然科学基金
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文摘
论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。
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关键词
层次化自测试
可测性设计
数模混合集成电路
系统级测试
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Keywords
Hierarchical self-test
DFT(testable design for testable)
mixedsignal ICs
system level test
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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