期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
中国硅材料工业的前景与挑战
1
作者 梁骏吾 郑敏政 +1 位作者 袁桐 戴自忠 《中国集成电路》 2002年第3期36-38,共3页
我国半导体硅材料事业始于20世纪50年代末,现已经历了四十四个春秋。在这期间,我国建立了多晶硅、直拉单晶硅、区熔单晶硅、硅外延片和非晶硅的生产体系。此外,SiGe材料、SOI。
关键词 多晶硅 半导体硅材料 硅外延片 硅材料工业 集成电路芯片 直拉单晶硅 集成电路制造 挑战 太阳能电池 区熔单晶硅
下载PDF
Si(001)衬底上APCVD生长3C-SiC薄膜的微孪晶及含量 被引量:1
2
作者 郑新和 渠波 +3 位作者 王玉田 戴自忠 杨辉 梁骏吾 《中国科学(A辑)》 CSCD 北大核心 2001年第3期242-247,共6页
利用X射线双晶多功能四圆衍射仪 ,对在Si( 0 0 1 )衬底上使用常压化学气相方法 (APCVD)生长的 3C SiC进行了微孪晶的分析 .Φ扫描证明了 3C SiC外延生长于Si衬底上 ,生长的取向关系为 :( 0 0 1 ) 3C SiC//( 0 0 1 ) Si,[1 1 1 ]3C SiC//... 利用X射线双晶多功能四圆衍射仪 ,对在Si( 0 0 1 )衬底上使用常压化学气相方法 (APCVD)生长的 3C SiC进行了微孪晶的分析 .Φ扫描证明了 3C SiC外延生长于Si衬底上 ,生长的取向关系为 :( 0 0 1 ) 3C SiC//( 0 0 1 ) Si,[1 1 1 ]3C SiC//[1 1 1 ]Si. 3C SiC的{1 1 1 }极图在χ =1 5 .8°出现了新的衍射 ,采用六角相 {1 0 1 0 }晶面的极图以及孪晶SiC( 0 0 2 )的倒易空间Mapping分析了χ=1 5 .8°处产生的衍射为 3C SiC的孪晶所致 ,并利用ω扫描估算了孪晶的含量约为 1 % . 展开更多
关键词 3C-SIC 微孪晶 双晶多功能四圆衍射 常压化学气相生长 半导体材料 APCVD 碳化硅薄膜 含量
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部