一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法

本文设计了一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法,通过增加一个延时扫描电路、一个比较器和一个计数器,可以自动扫描并快速地找到与SRAM读取时间最近接的延时,通过测量由该延时组成的环形振荡器的振荡周期从而得到SRAM的读取时间。这种测试方法避免了测试时频繁的人工操作介入,测试效率高,并且由于采用固定延时单元和具有多个可选延时的单元的组合方式,在保证较大的测量范围的前提下,节省版图面积。

一种基于存储器的高精度抗干扰的比较器

笔者设计了一种基于存储器的高精度抗干扰比较器,其中主要包括放大器、输入级MOS管的尺寸调整模块等模块。通过对放大器灵敏度的调节从而实现高精度和高抗干扰能力,同时笔者所提出的比较器实现结构简单,在存储器中使用可以极大提高存储数据读出的准确率。

一种加速DRAM灵敏放大器的设计方法

文章设计了一种DRAM中的灵敏放大器,通过增加一个过充电压开关,一个过充电压工作时间脉冲控制电路,一个发生器电路,使得灵敏放大器的放大速度有效提升,从而改善了DRAM的性能指标参数t RCD,提高了DRAM的性能。这种方法通过很小的代价,实现了灵敏放大器放大速度的改进。电路易于控制,版图面积增加很小,功耗无需增加,是一种提高灵敏放大器性能的有效方法。