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氧化铝基片对厚膜导体附着力的影响
1
作者
敖己忠
洪朝铸
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1990年第1期55-57,共3页
基片的物化性质,与厚膜电路导体的性能,特别是可靠性和生产中的重复性等关系非常密切。本文从实验出发,比较了几种不同的96%氧化铝基片对厚膜导体附着力的影响,并进行分析及讨论。
关键词
氧化铝
基片
厚膜导体
附着力
下载PDF
职称材料
题名
氧化铝基片对厚膜导体附着力的影响
1
作者
敖己忠
洪朝铸
机构
昆明贵金属研究所
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1990年第1期55-57,共3页
文摘
基片的物化性质,与厚膜电路导体的性能,特别是可靠性和生产中的重复性等关系非常密切。本文从实验出发,比较了几种不同的96%氧化铝基片对厚膜导体附着力的影响,并进行分析及讨论。
关键词
氧化铝
基片
厚膜导体
附着力
分类号
TM241 [一般工业技术—材料科学与工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
氧化铝基片对厚膜导体附着力的影响
敖己忠
洪朝铸
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1990
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