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一种低开销的抗SEU锁存器 被引量:1
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作者 方文庆 梁华国 黄正峰 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2014年第5期679-682,686,共5页
随着微电子技术的不断进步,集成电路工艺尺寸不断缩小,工作电压不断降低,节点的临界电荷越来越小,空间辐射引起的单粒子效应逐渐成为影响芯片可靠性的重要因素之一。针对辐射环境中高能粒子对锁存器的影响,提出了一种低开销的抗SEU锁存... 随着微电子技术的不断进步,集成电路工艺尺寸不断缩小,工作电压不断降低,节点的临界电荷越来越小,空间辐射引起的单粒子效应逐渐成为影响芯片可靠性的重要因素之一。针对辐射环境中高能粒子对锁存器的影响,提出了一种低开销的抗SEU锁存器(LOHL)。该结构基于C单元的双模冗余,实现对单粒子翻转的防护,从而降低软错误发生的概率。Spice模拟结果显示,与其他相关文献中加固锁存器相比,LOHL在电路面积、延迟和延迟-功耗积上有优势。 展开更多
关键词 锁存器 C单元 软错误 双模冗余
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江都自行车车把厂改革企业内部分配制度的尝试
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作者 马泽骏 方文庆 《中国劳动》 1987年第9期25-,共1页
江都自行车车把厂是江苏省轻工业厅定点生产自行车车把的专业厂。自1981年以来,各项主要经济指标分别以百分之几十的速度递增。今年1—5月份,已超额完成了上半年的计划任务。该厂生产形势好的原因很多。
关键词 江都 内部分配制度 专业厂 轻工业厅 改革企业 主要经济指标 上不封顶 计划任务 辅助工人 单位经济效益
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