CMOS集成电路电气参数测试方法研究

随着大规模集成电路自动测试设备的出现,自动测试技术被广泛应用,实现了高效率的集成电路产品验证,这就使得应用自动测试设备有了一定的流程。首先对CMOS集成电路电气参数的典型测试流程进行介绍,然后对基本测试方法及可能的测试结果逐项加以说明。

射频(RF)卡原理与结构

讲述了射频卡及RFID的基本概念、结构原理、性能特点,并对射频卡芯片的原理作了简要介绍。