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题名多层PCB互连应力测试技术及实验验证
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作者
石博宇
邓二平
陈庆国
施卢军
吴立信
丁立健
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机构
合肥工业大学电气与自动化工程学院
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出处
《半导体技术》
CAS
2024年第12期1153-1164,共12页
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文摘
随着新能源汽车车载充电机效率和功率的逐步提升,对印制电路板(PCB)的可靠性提出了更高的要求。分析了测试基本原理以及目前国内外的研究现状,依据IPC-TM-6502.6.26:2014中测试方法A提出的测试标准对研制的设备进行互连应力测试(IST)。基于IST原理,分析测试中样品的失效机理,找到需要监控的主要变量。并介绍了四线制测量电路、温度校准等难点。在温度校准中,电阻温度系数会影响样品温度的准确性,因此该变量尤为重要。进行了大量测试,以验证本设备的功能完整性以及使用过程中的稳定性和安全性。此外,使用本设备与IPC标准中指定的IST设备进行了对比测试。测试结果表明,本设备在控制保护程序、数据处理及温度校准方面相比于参考设备更具优势。
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关键词
印制电路板(PCB)
电镀通孔
互连结构
互连应力测试
可靠性
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Keywords
printed circuit board(PCB)
plated through hole
interconnection structure
interconnect stress test
reliability
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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