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基于时间放大的光盘抖晃测试系统设计 被引量:1
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作者 周为 阮昊 +1 位作者 施宏仁 余超群 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第11期2145-2149,共5页
利用TIA(时序分析仪)或其它模拟方法来测量光盘的抖晃存在成本高、灵活性差、稳定性低等不足,而在实际的光盘生产测试过程中,更需要一种升级扩展方便、性价比高的测试设备。在粗糙脉宽检测方法的基础上,引入时间放大电路,成功地设计出... 利用TIA(时序分析仪)或其它模拟方法来测量光盘的抖晃存在成本高、灵活性差、稳定性低等不足,而在实际的光盘生产测试过程中,更需要一种升级扩展方便、性价比高的测试设备。在粗糙脉宽检测方法的基础上,引入时间放大电路,成功地设计出一套以FPGA为核心,基于PCI Express总线的抖晃测试系统;实验表明,该系统具有结构简单、精度高、设计灵活、成本低等特点,在光盘测试和抖晃特性研究方面具有较好的应用价值和一定的市场前景。 展开更多
关键词 抖晃 脉宽测量 时间放大 FPGA PCI EXPRESS
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High-Density Read-Only Memory Disc with Ag11In12Sb51Te26 Super-Resolution Mask Layer 被引量:2
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作者 王阳 徐文东 +2 位作者 施宏仁 魏劲松 干福熹 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2004年第10期1973-1975,共3页
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CD-R光盘盘基槽深和槽宽均匀性测试方法研究 被引量:4
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作者 徐文东 干福熹 +2 位作者 施宏仁 何红 林强 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期994-998,共5页
介绍了一种利用衍射方法测试CD R光盘盘基槽深和槽宽均匀性的方法。CD R光盘盘基槽深和槽宽均匀性的测试对于CD R光盘的制造非常重要 ,它可反映出母盘涂胶、刻录、显影、金属化、电铸及盘基复制的质量。尽管它不能精确测试沟槽的形状 ,... 介绍了一种利用衍射方法测试CD R光盘盘基槽深和槽宽均匀性的方法。CD R光盘盘基槽深和槽宽均匀性的测试对于CD R光盘的制造非常重要 ,它可反映出母盘涂胶、刻录、显影、金属化、电铸及盘基复制的质量。尽管它不能精确测试沟槽的形状 ,但在测试均匀性时却显得简单、可靠、灵敏、快速和无损。 展开更多
关键词 CD-R光盘盘基 光栅 衍射 槽深 槽宽 测试
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一种新的超分辨记录点的读出技术 被引量:4
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作者 魏劲松 阮昊 +1 位作者 施宏仁 干福熹 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期526-528,共3页
提出一种新的超分辨记录点的读出技术%D超分辨反射膜技术 ,详细分析了其原理。用该技术 ,以Sb为超分辨反射膜 ,SiN为介电层 ,在激光波长为 6 32 .8nm和光学头的数值孔径为 0 .40的读出光学系统中实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出... 提出一种新的超分辨记录点的读出技术%D超分辨反射膜技术 ,详细分析了其原理。用该技术 ,以Sb为超分辨反射膜 ,SiN为介电层 ,在激光波长为 6 32 .8nm和光学头的数值孔径为 0 .40的读出光学系统中实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出。同时研究了Sb薄膜厚度对读出信噪比的影响规律 ,发现最佳的Sb薄膜厚度为 2 8~ 30nm ,所得的信噪比为 38~ 40dB。 展开更多
关键词 信息处理技术 超分辨记录点 光存储 信噪比 读出技术 锑薄膜
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基于Sb掩膜的只读式超分辨光盘
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作者 魏劲松 阮昊 +1 位作者 施宏仁 干福熹 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第12期902-904,共3页
采用Sb掩膜层代替Al反射层,在激光波长为632.8nm和数值孔径为0.40的光盘动态测试装置上实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出.得到了Sb薄膜厚度对只读式超分辨光盘的读出信号强度的影响规律.同时发现Sb为28~30nm时超分辨记录点的读... 采用Sb掩膜层代替Al反射层,在激光波长为632.8nm和数值孔径为0.40的光盘动态测试装置上实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出.得到了Sb薄膜厚度对只读式超分辨光盘的读出信号强度的影响规律.同时发现Sb为28~30nm时超分辨记录点的读出信号强度最高达38~40dB. 展开更多
关键词 光盘 超分辨 光存储 SB 信噪比 锑元素
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Si掺杂Ag基超分辨薄膜读出性能研究 被引量:4
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作者 赵石磊 耿永友 施宏仁 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第6期297-302,共6页
超分辨薄膜是一种能够实现突破光学衍射极限的功能薄膜,它在超分辨近场光存储技术中起到至关重要的作用。采用磁控溅射共溅的方式制备了Ag掺杂一定量Si的超分辨复合薄膜,测试了其作为掩膜层的超分辨光盘读出性能,并获得了最佳的薄膜制... 超分辨薄膜是一种能够实现突破光学衍射极限的功能薄膜,它在超分辨近场光存储技术中起到至关重要的作用。采用磁控溅射共溅的方式制备了Ag掺杂一定量Si的超分辨复合薄膜,测试了其作为掩膜层的超分辨光盘读出性能,并获得了最佳的薄膜制备条件,即当Ag溅射功率为55 W,Si为95 W,溅射时间为80s,薄膜厚度为39nm时,超分辨光盘的读出信号载噪比(CNR)最高为28dB。用X射线光电子能谱测量了上述薄膜的组成,用扫描电子显微镜观察了薄膜微区形貌,并用椭圆偏振光谱仪测量了薄膜的光学常数和厚度。超分辨复合薄膜的读出机理可以用Ag的散射型机理解释。光盘在持续读出10万次以后读出信号基本没有下降。 展开更多
关键词 光存储 超分辨薄膜 共溅 载噪比 稳定性
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In掩膜层超分辨光盘的读出研究
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作者 张奎 耿永友 施宏仁 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第6期161-165,共5页
在超分辨光存储技术中,掩膜层材料是决定其性能优劣的关键。In薄膜可以作为掩膜层用来实现超分辨信息点的动态读出。采用直流磁控溅射法制备不同厚度的In薄膜,用台阶仪测量薄膜厚度随时间的变化关系,用原子力显微镜观察不同厚度薄膜样... 在超分辨光存储技术中,掩膜层材料是决定其性能优劣的关键。In薄膜可以作为掩膜层用来实现超分辨信息点的动态读出。采用直流磁控溅射法制备不同厚度的In薄膜,用台阶仪测量薄膜厚度随时间的变化关系,用原子力显微镜观察不同厚度薄膜样品的表面形貌。在预刻有尺寸为390nm信息点的光盘盘基上制备In薄膜,从而形成In掩膜超分辨光盘。利用光盘动态测试仪进行动态读出,最高读出载噪比(CNR)达到26dB。为了进一步分析超分辨动态读出的物理机理,采用变温椭圆偏振光谱仪测量In薄膜在不同温度下的光学常数,得到In薄膜在不同温度下的反射率和吸收系数。分析表明In掩膜超分辨光盘的读出机理符合孔径型超分辨读出模型。 展开更多
关键词 薄膜 超分辨 In掩膜 载噪比
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GeSbTe直接重写相变光盘动态写擦特性研究
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作者 王瑞强 施宏仁 +1 位作者 袁海骏 李锡善 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第6期787-792,共6页
GeSbTe体系是目前最适用于可重写相变光盘记录的材料,本文利用自己研制成功的相变光盘动态测试装置对本所研制的GeSbTe相变光盘进行了光盘动态擦写实验和材料性能研究,并实现了直接重写,取得了较大的进展。实验中发现脉冲擦除比直流... GeSbTe体系是目前最适用于可重写相变光盘记录的材料,本文利用自己研制成功的相变光盘动态测试装置对本所研制的GeSbTe相变光盘进行了光盘动态擦写实验和材料性能研究,并实现了直接重写,取得了较大的进展。实验中发现脉冲擦除比直流擦除有较好的擦除效果和较多的重写次数。 展开更多
关键词 可重写 相变 光盘 单光束直接重写
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Read-only memory disk with AgO_x super-resolution mask layer 被引量:1
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作者 张锋 王阳 +2 位作者 徐文东 施宏仁 干福熹 《Chinese Optics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2005年第2期113-115,共3页
A novel read-only memory (ROM) disk with an AgOx mask layer was proposed and studied in this letter, The AgOg, films sputtered on the premastered substrates, with pits depth of 50 nm and pits length of 380 nm, were ... A novel read-only memory (ROM) disk with an AgOx mask layer was proposed and studied in this letter, The AgOg, films sputtered on the premastered substrates, with pits depth of 50 nm and pits length of 380 nm, were studied by an atomic force microscopy. Tile transmittances of these AgOx films were also measured by a spectrophotometer. Disk measurement was carried out by a dynamic setup with a laser wavelength of 632.8 nm and a lens numerical aperture (NA) of 0.40. The readout resolution limit of this setup was λ/(4NA) (400 nm). Results showed that the super-resolution readout happened only when the oxygen flow ratios were at suitable values for these disks. The best super-.resolution performance was achieved at the oxygen flow ratio of 0.5 with the smoothest fihn surface. The super-resolution readout mechanism of these ROM disks was analyzed as well. 展开更多
关键词 Atomic force microscopy Compact disks FILMS Masks Optical resolving power Silver compounds SPECTROPHOTOMETERS
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