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题名光电产品的新型寿命预测模型及其应用
被引量:4
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作者
张建平
宗雨
朱文清
易勐
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机构
上海电力学院能源与机械工程学院
上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室
浙江易鑫电子科技有限公司
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出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第2期319-325,共7页
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基金
国家自然科学基金(11572187)
上海市科学技术委员会项目(15110501000
14DZ2261000)
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文摘
大多数现有的寿命预测模型在处理光电产品实验数据时存在耗时长、精度低等问题。为了短时间内准确地预测光电产品的寿命,利用两参数威布尔函数拟合多组应力下的亮度衰减数据获得加速寿命,通过拟合优度检验参数确定Power函数来外推常规寿命,从而构建了一种新型的光电产品寿命预测模型:加速寿命外推模型(ALEM)。将该模型应用于真空荧光显示屏(VFD)寿命的快速预测,开展了4组恒定应力加速退化实验,实现了模型精度的评价。结果表明,设计的VFD加速退化实验方案正确可行,采集的实验数据客观地反映了VFD亮度衰减特性;ALEM准确地描述了加速应力下亮度的变化轨迹,很好地揭示了应力随寿命变化的规律,无需开展常规寿命实验便可精确地外推出产品的寿命,为现代光电产品的寿命评估开辟了一种新的方法和途径。
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关键词
光学器件
寿命预测模型
加速退化实验
威布尔函数
Power函数
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Keywords
optical devices
life prediction model
accelerated degradation tests
Weibull function
Power function
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分类号
TN383
[电子电信—物理电子学]
TN141
[电子电信—物理电子学]
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