紫外可见漫反射光谱和Tauc plot方法分析无机Ruddlesden-Popper钙钛矿带隙

半导体在当今社会中扮演着举足轻重的作用,在大学物理实验教学中,让学生能够深入理解半导体的带隙性质和测量方法有着重要的意义。紫外可见漫反射光谱方法是一种简便易行的确定半导体的带隙以及能带结构的方法。本文使用紫外-可见漫反射光谱以及Tauc Plot方法确定Ruddlesden-Popper半导体钙钛矿Sr_(n+1)Ti_(n)O_(3n+1)(n=1,2,3,∞)的带隙,并讨论了Tauc plot公式在透射和反射情形下的应用。